贴片天线阵列CST仿真设计实例（2）

紧接上篇贴片天线阵列CST仿真设计实例（1）。

在大型相控阵的设计过程中，通常有两个阶段：在单元设计阶段，我们对单个元素进行优化以在无限大的阵列中运行。在这一阶段，有源元件阻抗AEI和有源元件图形AEP受到关注。这些可以解决阵列的单位单元，以高精度预测整个阵列的预期性能（适用于大型阵列）。在整个阵列设计阶段，由于阵列实际上是有限的，我们有兴趣研究非周期性的影响，研究弯曲的天线罩，校准线或其他不能在单位像元上考虑的几何元素的影响。

修改参数，如下图所示：

从“模拟项目”列表中选择“阵列任务”。

在X和Y中启用镜像选择。选择数组的外部元素。将所选单元设置为被动。

选择激励模式，指定泰勒作为阵列激励模式，将相对旁瓣电平设置为-30 dB，单击确定进行确认，切换到激励视图。

创建一个单元模拟工程，指定扫描角度，选择所需的远场监视器，然后单击“确定”。

将Zmin边界条件设置为电，以避免离散接地平面下方的体积。由于地面无限大，因此没有磁场可以在该区域中流动！

启用不依赖于扫描角度phi的偏振。

默认情况下，Floquet模式的极化是（可变）扫描角度phi的函数。启用与扫描角度phi无关的极化后，基本模式TE（0,0）和TM（0,0）将线性变化组合，使得所得的第一模式的偏振与给定的端口偏振角（相对于端口的u轴，以度数为单位，如波导端口）对齐。因此，可以针对整个扫描角度范围优化天线的交叉极化。

创建全阵列仿真工程。定义每个元素相位的默认设置。

已经创建了一个名为Full Array1的新仿真项目。

完整的数组对布局，3D导航树中的组件和端口使用相同的索引名称。

将使用新参数PAA_FA创建“模拟项目”，以定义“有限阵列”扫描角度属性。

激励列表：

有效端口（x）使用预定义的泰勒振幅锥度和参数相移信息自动设置。这些端口同时被激励。

结果如下图所示

在参数扫描结束时，将处理AEI（Active S1,1）曲线，该曲线是扫描角度THETA和PHI的函数，并且仅针对那些具有关联的远场监视器的频率将其显示为2D彩色图。

有源元件模式（AEP）

有源元件方向图是使用从天线端口到Floquet基本模式的耦合数据来计算的。

具有在“单元像元”任务中定义的相同分辨率的生成的1D切割将被收集并可视化为3D远场。