CST中，如何进行参数化扫描分析
在用CST进行仿真设计的过程中，经常需要对某一些参数进行参数化设置，并对这些参数进行仿真对比。这一期，我们介绍下如何进行参数化扫描。
还是借用仿真实例001：圆极化平板天线仿真01，之前已经对馈电位置、贴片的长和宽都进行了参数设置，如下图所示：
默认的馈电位置在x=45mm，y=0mm的地方，如下图所示：
设置参数扫描
在仿真设计中经常会碰到这样的情况，想观察一下不同的馈电位置，天线的性能（如S参数）有什么变化。这里我们就来演示下如何进行参数化扫描，首先点开Par.sweep，如下图所示：
先点击New Sequence，再点New parameter，我们对feed_x进行如下图设置，即扫描馈电位置在25\35\45时的情况。
设置好的参数扫描如下图所示。点击Result Template，选择需要对比的内容。
设置后处理模板
CST后处理模板功能非常强大，用户可以通过模板内的各种功能进行选择操作，几乎可以得到任何关心的结果。比如我还想对比下不同馈电位置，对最大增益的影响。这里我们选择一个最大增益，来作为对比，作为示例，如下图所示：
选择好的后处理模版如下图所示：
点击Close返回到Parameter Sweep界面，并点击Start开始仿真。
仿真完成后，点击1D Results\S-Parameter\S1,1，如下图所示：
此时，不同馈电位置的S参数结果差别如下图所示：
我们也可以选择改看Smith Chart，如下图所示：
也可以点击Result Navigate，选择需要比较的曲线，如下图所示：
再点击导航树下的Tables\0D Results，如下图所示：
得到天线增益随不同馈电位置变化的曲线，如下图所示：
小结
CST中不仅仅能对结构尺寸参数进行扫描，只要用户能输入值的部分，大部分的项目都能进行参数化扫描。扫描对比的目标也可以通过后处理模板进行设置，后处理部分我们后面会专门写一期演示操作。
不同的版本可能会有点不同，在操作中如有问题可在文后或者后台留言。
