CST中如何使用自定义的频域材料色散介电

这个问题真的是太多用户问了。。。所以解答一下。之前有一篇关于用宏提取材料参数的推荐方法也可参考：如何用CST自带宏提取材料的DK，Df值。

材料属性中，要用电导率的色散模型，然后色散卡下，可选择用户输入：             

下面假设用户已有材料数据，比如我这里随便写一组：

这里的N阶多项式拟合最多阶数为10，虽然用户可控制误差和调整某些频点的权重，但很多时候都会发现，仿真用的材料曲线与用户提供的数据很难达到非常一致的拟合，比如：

首先强调一下CST为什么这么做，首先频域数据不连续，所以一定需要拟合。那么拟合就直接拿用户提供的数据点然后插值不就行了吗？当然不能那么简单，这么想是只知频域不知时域。

CST的拟合曲线自动确保时域因果性（感兴趣的朋友可以研究一下因果性和Kramers-Kronig关系），这个是时域仿真很重要的，所以拟合会出现有些频点并没有用到用户的数据的情况，换句话说，用户的数据经常是不满足时域物理性的“问题”数据。

CST有非常多的仿真场景是频域时域互换，比如场路协同等等，这就不能对时域材料属性放置不管，所以CST这种扫地僧式的做法经常被误解成拟合不准，哎。

下面回答这个问题，用户一定要用自己提供的这些数据进行频域仿真可以吗？当然可以，不用时域拟合（Fit）数据就行了~~

 方法1. 直接F宽频仿真，不用时域拟合

由于材料频点离散，这里往往需要用户自己调整仿真频点，可用等间距Equidistant或多个Single单频点来定义：

频域求解器specials中，只要不选Fit as in Time Domain,那么材料就用回Data List：

仿真结束后查看材料使用情况：

方法2. 参数扫频仿真，不用时域拟合

这个方法比较古老，较多手动，一般不推荐。唯一特点就是每个频点是一组单独的数据，可能方便某种后处理。

先将仿真频率范围参数化，一次只跑两个采样点的间距，比如这里仿真0-15GHz，samples=15，初始N=0 

必须使用频域求解器，选择单频点仿真： 

Specials中，确保材料不用时域拟合：

材料拟合设置界面，选择Use  datain frequency range，限制每次单频点的材料数据。

然后用参数扫描扫N进行仿真：

仿真结束后，可查看用了哪些材料属性，不是材料原数据就是插值：

小结：

1.     频域材料可直接在频域求解器中使用，这里可以和时域拟合不一致。

2.     T和F对比的时候，材料拟合就要一致了。

3.     方法1 是F求解器直接的功能，方法2是一种特殊的做法。

4.     现代仿真技术和功能是不断进步的，但无论什么方法，若不提供给仿真软件正确的数据也是白搭。巧妇难为无米之炊的道理还是对的。