CST基础046-参数扫描分析和优化设计

CST是Computer Simulation Technology的缩写，是一款被广泛使用的高端电磁仿真分析软件。CST基础使用系列文章共计有100多篇，主要讲解CST仿真分析时常用的基础操作和基本使用技巧，帮助用户更好的理解和掌握CST的使用。

1. 参数扫描分析

如果直接更改变量的取值，再重新运行仿真得到结果，需要很多的时间和精力。CST中使用参数扫描分析（Parameter Sweep）功能，可以做到更改变量取值对仿真结果造成的影响一目了然。

打开参数扫描分析设置的操作命令：Simulation > Solver > Setup Solver > Par. Sweep。

参数扫描分析具体操作步骤如下图所示。

2. 优化设计

优化设计操作：Simulation > Solver > Optimizer。

利用Optimizer可以自动查找满足优化目标值的变量取值。Optimizer的Settings选项卡中可以选择算法和变量取值范围。优化算法共有七种可供选择。局部优化算法适用于需要优化的变量数量少，Parameter取值范围小的优化，全局优化算法适用于需要优化的变量数量多，Parameter取值范围大的仿真优化，我们要根据实际情况选择最佳解决方案。通常全局优化算法需要更多计算时间。

设置完变量后，在Goals选项卡中点击 Add New Goal 按钮设置目标值。Result Name中选择优化对象，Conditions中设置目标值的Target和Operator。下方的Range中可以选择频率范围，在设置的频率范围内进行优化。点击“ok”按钮完成Goal设置。