CST系统级RS仿真（二）- RS仿真场地较准（扫频模式）
作者 | Zhou Ming
根据IEC61000-4-3标准，RS测量时，要保证在距离天线3m处形成一个场强相对均匀的区域，如下图所示。
较准时会选择16个点，逐一进行测量。以10V/m的目标场强为例，只要其中12个点的场强达到10V/m以上，该场地即满足要求。实际过程中，考虑到调制后的信号电压伏值会变大1.8倍左右，功放有可能会出现过载现象。因此，场地较准时会使用更大的更大激励信号，仿真不用考虑这一点，这也是仿真的优势。
接下来我们通过CST构建一个RS测量场地，分别由天线、桌子、以及16个电场probe构成。RS场地较准仿真的目的，是确保目标区域的场强符合标准要求，我们需要得到端口激励电压和场强之间的关系，也就是天线系数——Antenna Factor。
首先，利用CST时域求解器进行3D仿真，此处省略掉网格、求解器、边界条件等重要设置，仿真后可以得到天线的S参数、远场方向图、增益等常用结果。
RS测量有扫频和单频点干扰两种模式，首先我们用CST来模拟扫频的测量方式。进入CST的电路工作室，创建AC task，端口激励电压为1V，设置Combine Results。
通过CST场路协同仿真，我们得到了1V激励条件下，在3m位置的E-probe上的场强，如下图所示。整体来看，16个位置的波动在合理范围内。
我们选择其中一个E-probe的场强，作为计算天线系数AF的基准，因为激励信号的电压是1V，因此这条曲线对应的值就是天线系数，单位1/m。
接下来，关键问题来了，如果想得到10V/m的场强呢，我们该怎么做呢？根据天线系数的定义：天线系数（Antenna
Factor）也称天线因子，是指天线附近接收的电场强度与天线端口生成的电压比值。我们只需要做一个简单的数学计算，就能得到端口激励电压，如下图所示。
利用新生成的电压信号，设置成激励源，重新运行AC task，在3m位置的E-probe上的场强变成了10V/m，如下图所示。
完美！
下期我们将继续介绍单频点干扰模式校准，敬请期待。
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