Probe De-embedding Using Agilent ADS

Agenda
1. Introduction
2. Calculate S-parameter for Single SMA using ADS
3. Measure probe under SMA fixture
4. De-embed probe S-parameter from the SMA fixture
5. Conclusion

介绍
1. 在进行Gb高速电路板设计测试时，连接头的寄生效应是不可忽略的。需要采用正确的去嵌入方法找出连接头的S参数，并将其从测试结果中去除。
2. 探针生产厂商通常需要向客户提供准确的探针数据，而非包含测试夹具寄生效应的数据。另外，随着工作频率增加，夹具寄生效应会快速增加从而限制探针在高频的性能。
3. 因此，无论探针厂商还是高速电路板设计测试人员，都需要一个有效的去嵌入方法来移除测试夹具和连接头的寄生效应。
4. 本应用文档以高频探针为例，介绍如何使用ADS快速有效的去除SMA测试夹具的寄生效应。
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