CST如何实现按角度扫描？

到底如何实现按角度扫描啊  真的不会啊！ 

请详细写下仿真的任务，光这一句话很容易让人产生歧义的

双反射面天线，要求阵列馈电。大概64个馈源，需要天线实现在方位和俯仰±20度范围内扫描，得到这个范围内的扫描后的综合方向图，打算利用sweep来做，但是第一不知道怎么将角度参数加进来，第二角度也不一定按线性步长。

是否是64个阵元的激励设置，这样的话需要对每个端口赋于相位，通过相位差调整扫描角度。 
如果是等间距的话都书上都有扫描角和相位的对应公式

我需要在方位和俯仰上面都有20度的扫描角，按你说的我得设置一下相位仿真一下得到一个角度的方向图，最后再合成所需要的范围内扫描的方向图吗

你先说说你的天线的工作原理，是通过转反射面得到扫描角还是通过馈源的相位控制得到扫描角？

是的，根据你的情况，建议你采用全波仿真，只要仿一次得到每个单元的结果就可以了。就得将每个馈源得到的结果用combine result操作合成结果。 
当然你也可以只仿真一个单元，然后用antenna array阵列因子的随便看看，后者可以随意得到你要的角度，只是没有考虑阵元间的耦合。

通过馈源的相位控制，但是不要用移相器或者TR组件，能否利用CST自带功能实现相位参数扫描

这个我也知道，但是你说的也只是看到某个特定角度下阵列的方向图，而我需要的是角度要离散扫描下的方向图合集  这个用matlab可以实现，我想知道用cst自带的什么功能能实现这样的参数扫描

 
用后处理-设置你扫描角度为变量，如图x1=30。阵列中相应的单元为n*x1。每改动一次x1,点击一次evaluate,就按相位差生成一条曲线。所有曲线可拷贝到一起就是你要的合集。（CST中曲线可以直接拷贝）