CST仿真天线的时候如何快速找到期望值？

来源：edatop 更新时间：2024-07-11 阅读：

在学习CST仿真天线过程中，自己常用扫频方法（parameter sweep)选定一个结构参数扫频后看 s11图，观察里面的带宽，谐振点位置等指标，从而得到参数变化对结果的影响趋势。
现在的疑问是在这个过程中，可能有多个参数，期望指标也有好几项，经常会出现一个指标达到了另一个不符合。综合起来要想达到期望值过程比较漫长。
用过简单的遗传算法设定好以后让机子自动搜寻最优解，但是也有听说它找到的最优解会不稳定的意见。一旦加工时出现误差，会造成结果不在允许范围内。
想问的是如何才能提高寻找效率？有没有好的寻找习惯或方法？

就算来顶贴吧。
原则上CST有optimize功能，但觉得局限性太大了，问题稍微复杂一点，比如可调参数多一点，变化范围大一点就不行了。
还是具体问题具体分析吧，另外能提供的建议就是多从电流分布等直观表现来分析逐步简化参数扫描了。