想请教一下天线测量方面的问题

在天线测量这块，有说到近场测量和远场测量。近场测量大概是距天线口面3-10个波长处，而这个近场测量又是发展比较成熟（在微波暗室中进行），我想问，微波的波长很短，而且在远场区的主副瓣有明显显现出来，有必要在近场测量吗?而且近场的主副瓣不是很明显。请教各位高手。谢谢！初次学习还真是不理解啊！

远场测试看辐射特性，近场测试看幅度相位分布特性，由近场可通过傅里叶变换到远场，和远场测试进行对比，一般近场测试软件里都集成了这功能，如果你的远场测试和近场测试差异很大，你要分析下具体原因了

实际上不是有没有必要近场测量的问题，而是你选择近场测量和远场测量的问题。实际上，不管近场测量和远场测量，目的是一样的，就是天线的辐射特性。只不过近场是通过二楼所说的变换到远场特性。而选择近场测试时由于其环境、设备条件要求相对远场低一些，并且不收自然条件影响，所以应用广泛。事实上近场测试可信度基本可以代替远场测量，但是目前有很多人不相信或者不承认近场数据的准确性，所以很多时候要求近场远场都要测试。

小妮子在此谢过各位前辈。以后还请各位前辈多多关照。那也就是说拿近场测量和远场测量进行比对，若是相差大就要修改近场使近场测量更加准确了。好啊！谢谢！

和远场测量相比，近场测量具备更多的优势，首先是场地，远场需要较开阔的场地，受外界电磁环境影响、气候影响等，而近场只需要在室内由于在屏蔽吸波的环境内，全天候工作，基本不受外界影响；其次是精度方面，远场受环境、距离影响，所以精度低，近场受影响小所以精度高。价格方面，远场较近场便宜，近场投资高但回报更高。

谢谢！从整体来看近场测试，好像其最重要的在软件方面，不知道对其他部件还有什么样的要求?

远场要求较低，一般来说除了一个符合要求的场地外需要一个测试转台及控制器、微波信号源、接收机或矢网、测控计算机、接收天线、若干射频电缆和控制电缆。
近场则额外需要平面、柱面或球面采样架及其控制设备等。

谢谢！辛苦了！我现在头疼的是自己这边要做其中的一部分，不知如何去选。像扫描架、探头、天线、电缆就不用考虑了。剩下的就是微波信号源和软件部分。

各位大侠 我有个疑问 近场测试时一种很理想的情况 但现实的使用环境往往都有很复杂的电磁环境 这样看来应该是远场测试结果更接近实际情况啊 不对之处敬请指正

首先远场测试也是需要在理想环境中测试的，微波暗室，吸波材料的作用只是为了模拟自由空间。其实你的理解是对的，当实际使用时，天线的环境变化，方向图是有可能发生变化的。但绝大部分情况下，其还是和自由空间状态的方向图接近的。