请教UHF RFID天线阻抗的测量

最近设计了RFID天线，在实验室做了端口阻抗测量，发现跟仿真的阻抗值偏差较大。用ADS和HFSS都仿过，阻抗差别比较小，才加工的，并且加工中PCB的控制也是可以的。
测量中，S11或阻抗，随着天线的位置出现变化，有时变化较大。如果在chamber里测量，还会不会出现这种情况?毕竟实验室反射面太多了。
有没有大侠有类似的经验啊！谢谢！

频率低受环境影响大，在暗室测会稳定很多。S11应该以实测为准，仿真只是参考

没有chamber啊！哎！

不知道你在哪，我这边有暗室，可以免费帮你测一下看看。　

能否告诉我你的联系方式呢 最近一直比较愁标签天线测试的问题