为何有时候测的天线实际功率要大于主板传导功率
这个分析很到位,他应该测试的是2D,不是TRP~
特别是高频方向性比较强,很多角度EIRP会大于传导~
有这个问题,你是说耦合还是OTA呢?是EIRP还是TRP呢?
楼上的正解
在2D某个方向上天线增益大于0dB,是可能出现这种效果的。但是如果是3D的TRP,因为是全向的,整体效果肯定是小于0dB,就不会有这样的事情了。
天线功率是不可能高于传导功率的(能量守恒定律),只有测试方法问题,建议小编说详细点。
呵呵,chamber不准么。去同耀去测测就知道究竟是多少!就是好贵。
对于低频来讲,不管是2D或3D测出的值高于主板传导功率,主要是暗室补偿值偏高造成的。对于高频主要是由于其方向性强,在某个方向有可能高于主板传导功率。
PA在调试的时候,其最佳阻抗点并不是在50欧的时候,GSM PA一般会将其调在最佳效率点,这样手机的最大通话电流会最小,CDMA PA在调试的时候要在效率点和ACLR点之间平衡。传导测试的时候,仪器的阻抗是标准的50欧,耦合测试的时候,天线阻抗如果不是50欧,会将PA的阻抗拉倒最佳功率点,这样耦合出来的TRP可能会高于点测数据,当并不表示高于耦合工作的时候,馈点处的功率。
等待更多的解释
负载拉移-LOAD PULL可以产生2DB的增益?个人不干苟同。
我认为,小编说的情况应该用天线的方向增益来解释比较合理。
其他解释都是错的 这是load pull问题-负载偏移
因为耦合测试的时候加有补偿值啊,理论上来讲,耦合测试值不可能大于传导测试值!而一般补偿值加载都较高!
同样,如果是LOADPULL的问题 天线也不可能让信号功率大于传导功率
请大神帮忙指导如何测试天线射频性能?急,请大神帮忙~~
我在satimo 7*4*3 16位暗室也遇到过TRP很接近甚至高于传导测试的情况,我觉得9L说得有道理
天线是无源器件,其对能量只有衰减没有放大,要好好看看天线增益的定义了,他和电路里面增益的定义是不一样的,是有对比的对象的,呵呵,这种情况一般是从PA的负载阻抗变化来解释,不然就是暗室补偿有问题了。
楼上的大牛们说的都很有道理,小编所给的测试条件和环境太有限了,应该详细点。如果是测3D TRP耦合功率,应该像9L说的,天线作为负载loadpull被拉到最佳优化功率负载了,有可能导致功率输出上升(相对扣connector传导的测试情况)。如果是测2D的,天线增益的定义是某个方向上的,是有方向性的,在特定的方向上是有可能出现功率增大的情况。
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