为什么用耦合箱测试整机的时候干扰被消除了，可是用暗室测试整机的时候干扰还在？
05-08
现在小弟有个问题：前段时间做项目的时候，低频耦合出现干扰。将FPC拔掉后在 2D模式下 测试 干扰消失。在3D模式下测，干扰还是存在。请问各位老大是什么原因造成的?
我不是问怎么消除干扰。我是问为什么用2D和3D测试的结果会不一样?
干扰TIS吗?找出哪根线，然后加缓冲
用多部机器验证都是这样的效果。整机为侧滑全键盘
期待答案
没有高手……
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