探索2：用转接器测试
但由于转接器有限的电长度在时域中不能有效隔离消除，所以最终测试结果
是包含转接器的驻波。在微波频段，其影响是非常明显的。其矢量叠加效应
导致不能以线性关系取舍。只能被动提高转接器的性能，但其也是有限度的。
如何能得到测试件的真实值，与各位同行商榷。
时域没用过。
这个问题我也想过，我们最近在帮老外测试精密转接器，我想问问老外，不过外语还没到那地步。
不过老外现在跟我们提的要求是这样的。
如果测试SMA转N 的，我们先用N 行的负载在端口上面进行校准。在接上被测的转接器。在SMA端接SMA的负载得到的曲线，老外分析下来是他们想要的。老外发了他们用时域在有其他还几种方法测试下来的结果。比较得到比较方便有效的测试结果。
这个还要周哥帮忙想想。
刚才忽然发现我现在这个公司还蛮牛的60年代参与不少美国关于连接器方面标准制定以及新的产品开发的。小归小，还当过领带
不是有个gating功能么?
就是滤掉接头之前的ReturnLoss
一般都是把转接器也校准进去
不同类型转接器及电缆组件相互之间的转换通常可以分成两种测试方法，以n/3.5为例说明：
1.假设测试端口为N，在另外一端加上n/3.5的标准转接通，分别进行单端口校准，然后进行双端口测试，但是无法给出损耗值；
2.进行单端口测试，加标准转接通或者标准负载，但并不对标准转接通进行校准或者配接标准负载。这种情况下我们认为标准转接通或者标准负载是完全匹配的。所以给出的测试结果也是近似的。这个值的近似程度取决于标准接通与标准负载的等级。
我通常用的方法是选用自制转接器连接，可以一同提供一对转接器的测试指标，并注明测试方法。这种做法的好处是可以支持单端口和双端口测试，并能够提供一对转接器的全部指标。
我可能没说清楚，我想探讨的是例如测试件是一根电缆组件，电缆组件上两端的连接器没有对应的校准件，然后使用自制的转接器过渡测试，怎么能有效消除那一对过渡转接器的影响得到电缆组件真实的驻波?注：自制转接器性能不作忽略。
根据小编所言，该测试指标就是两转接器外加电缆组件的指标了，是一个整体，而这个整体是不可分的。
在时域，根据近似线性关系，我们可以完全读出所需被测件的数据。
但是在频域测试确是不可分割的，他们已经融为一体了，你可以说这个数据是任何一个转接器的，也可以说是电缆组件的，但是真正的，只是这个整体的值。
这个时候建议提供时域测试测，就如前面有个帖子中的smp时域测试一样，生产厂家提供最原始的测试数据。
如果是提供频域数据，需要提供测试方法，并附上最原始之数据，否则不会被承认的。
时域是可以看到整体的性能曲线，但问题是现有仪器其分辨率要换算成电长度在1mm以内是困难的，要很高的分辨率的话，就可以有效区分转接器、电缆组件、转接器。而且在单个转接器测试时也可以看到具体哪个部位阻抗偏差。是我现有仪器差（硬件）还是功能不够（软件）。我现用带通模式，一致搞不清低通模式的应用。怎么能在时域有效看到短距离（1mm以内）的性能，这样我就可以转换频域看具体驻波了。
使用标准的已知特性的转接头，然后再用去嵌把线缆的特性提取出来。1mm分辨率，至少要50GHz VNA。
原则上组件测试加了转接器测试的值都会比不加转接器的大，因为级联测试时通常只有2种情况，叠加或抵消！但抵消的情况比较少！只有波长刚好是1/4波长的整数倍才有可能！目前我还没有遇到过加了转接器测试反倒小的！这是我的经验！目前还没有得出具体原理！当然测试回损时单端口测试的值通常比双端口测试小，即使是采用标准的转接器也有这个问题，这和仪器自身的校准有关！
回复楼上的，现实中的确有加了转接器后指标变好的。
但这些不单纯是矢量叠加的原因。
你可以借用传输线原理来进行考证，为什么单端口测试指标通常优于双端口测试！?
请注意，这里的传输线是有耗，而并非课本中讲述的无耗线。
搞明白了以上问题，可能你对测试结果的认识会有所不同。
任何客观结果都有其形成的过程，只是有些过程不便于定量进行分析而已。
感谢11楼指点！测试线的影响已经考虑。理论上全二端口校准是比单端口校准更为精确的！而事实要看是传输测量还是反射测量！当然在校准消除误差上当然不仅仅是只考虑抵消和叠加那么简单了！这个道理我是明白的！但目前标准中还没有规定测试组件反射必须采用双端口测试还是单端口测试！即使是EIA的标准中也是如此，所以我个人在精细测试时两方面都是要考量的！一般的测试就没有必要这么烦琐了！通常直接采用双通道就可以了！不知各位高手通常会如何处理?
在这里，不是指点，我们互相讨论，可能我言辞有所不妥，不要介意。
在最开始遇到单端口测试有些明显优于双端口我也很诧异，难道校准的误差这么大！?
确实如此，我们且不论全校准与单端口校准的精确度谁更高，这属于校准范畴，我们不去讨论它，过于复杂，我们从传输线原理，从S参数的意义入手来进行考虑。
S参数明确定义了各参数的意义，这里就不多重复了。在校准过程中，所用测试线，转接器，负载甚至于开路器和短路器这些标准件的定义如何，我们重点关注其匹配性能，很明显，测试线的的匹配性能一般差于转接器及负载的匹配性，在这里我们考虑（当然是不考虑校准技术在内的分析了）在测试时，你是端接负载测试指标更好还是两端配接测试线指标更好！?
或许大家会认为这是胡捏乱凑，但是，在测试时我们为什么要求测试线，转接器，负载的匹配等级越高越好！?因为相对不同等级的测试，对校准件的要求除过对其重复性的要求，还有对匹配指标的要求。我考虑这就是原因了，否则就没有必要对测试线的指标规定过高要求，而仅仅只对校准件作要求就完了。当然，这些仅仅只是我的分析，有待计算与验证，它牵扯了具体的校准技术算法，我尚不具备这个能力，暂不做推导。
在更精密的测试中，我们经常可以看到，是直接在矢网的端口进行的，而不是通过测试线来完成的。即使有些测试避免不了用测试线，也只是用一根等级较高的测试线连接至仪器端口。
我们大多数都用测试线，因为矢网过于昂贵，相比校准件，维修矢网的端口花销更大，而且会降低一起的测试精度，况且，我们有多少厂家去认真的对每一个被测件进行界面测试，以保证其符合标准范围的！?
在这里，不是指点，我们互相讨论，可能我言辞有所不妥，不要介意。
在最开始遇到单端口测试有些明显优于双端口我也很诧异，难道校准的误差这么大！?
确实如此，我们且不论全校准与单端口校准的精确度谁更高，这属于校准范畴，我们不去讨论它，过于复杂，我们从传输线原理，从S参数的意义入手来进行考虑。
S参数明确定义了各参数的意义，这里就不多重复了。在校准过程中，所用测试线，转接器，负载甚至于开路器和短路器这些标准件的定义如何，我们重点关注其匹配性能，很明显，测试线的的匹配性能一般差于转接器及负载的匹配性，在这里我们考虑（当然是不考虑校准技术在内的分析了）在测试时，你是端接负载测试指标更好还是两端配接测试线指标更好！?
或许大家会认为这是胡捏乱凑，但是，在测试时我们为什么要求测试线，转接器，负载的匹配等级越高越好！?因为相对不同等级的测试，对校准件的要求除过对其重复性的要求，还有对匹配指标的要求。我考虑这就是原因了，否则就没有必要对测试线的指标规定过高要求，而仅仅只对校准件作要求就完了。当然，这些仅仅只是我的分析，有待计算与验证，它牵扯了具体的校准技术算法，我尚不具备这个能力，暂不做推导。
在更精密的测试中，我们经常可以看到，是直接在矢网的端口进行的，而不是通过测试线来完成的。即使有些测试避免不了用测试线，也只是用一根等级较高的测试线连接至仪器端口。
我们大多数都用测试线，因为矢网过于昂贵，相比校准件，维修矢网的端口花销更大，而且会降低一起的测试精度，况且，我们有多少厂家去认真的对每一个被测件进行界面测试，以保证其符合标准范围的！?
在这里，不是指点，我们互相讨论，可能我言辞有所不妥，不要介意。
在最开始遇到单端口测试有些明显优于双端口我也很诧异，难道校准的误差这么大！?
确实如此，我们且不论全校准与单端口校准的精确度谁更高，这属于校准范畴，我们不去讨论它，过于复杂，我们从传输线原理，从S参数的意义入手来进行考虑。
S参数明确定义了各参数的意义，这里就不多重复了。在校准过程中，所用测试线，转接器，负载甚至于开路器和短路器这些标准件的定义如何，我们重点关注其匹配性能，很明显，测试线的的匹配性能一般差于转接器及负载的匹配性，在这里我们考虑（当然是不考虑校准技术在内的分析了）在测试时，你是端接负载测试指标更好还是两端配接测试线指标更好！?
或许大家会认为这是胡捏乱凑，但是，在测试时我们为什么要求测试线，转接器，负载的匹配等级越高越好！?因为相对不同等级的测试，对校准件的要求除过对其重复性的要求，还有对匹配指标的要求。我考虑这就是原因了，否则就没有必要对测试线的指标规定过高要求，而仅仅只对校准件作要求就完了。当然，这些仅仅只是我的分析，有待计算与验证，它牵扯了具体的校准技术算法，我尚不具备这个能力，暂不做推导。
在更精密的测试中，我们经常可以看到，是直接在矢网的端口进行的，而不是通过测试线来完成的。即使有些测试避免不了用测试线，也只是用一根等级较高的测试线连接至仪器端口。
我们大多数都用测试线，因为矢网过于昂贵，相比校准件，维修矢网的端口花销更大，而且会降低一起的测试精度，况且，我们有多少厂家去认真的对每一个被测件进行界面测试，以保证其符合标准范围的！?
重复啦，但又没办法删除，改成现在这个样了呵呵
转接器对回波损耗影响大不大啊，今天我测了下滤波器，结果发现回波损耗很不好。使用了转接器的
请问高频段（例如10GHz）时域结果是什么仪器测试啊 不太清楚 呵呵
最近测试了一款测试组件，发现用转接器与直接测量那结果相差挺大的，简直不是同一数量级别的，不用转接器测试驻波在1.1以上了，用了转接器来测试居然在1.05以下，真是太离谱了，正为这事郁闷呢！我想应该是以直接测试的结果为准，可我想把性能调下来怎么整就是下不来，加上一转接器居然一下子就下来了。不知各位曾碰到类似问题，相互交流交流！
小弟学习了，这方面的知识还很欠缺
相关文章：
- 请问怎样测试一款板材的相对介电常数？(05-08)
- 用网络分析仪测试混频器(05-08)
- 测试材料的损耗角正切值-常用那些方法？(05-08)
- 微波学习网，空间测试(05-08)
- reverberation chamber用来作何测试的呢？(05-08)
- 再次请问北京的测试地点！(05-08)
