网分可不可以直接测量工作状态下的电路

05-08

[table=initial][tr][td]我理解网分的原理是：扫频并且接收反射波。根据输入输出的幅度相位来计算所有参数。
那么比如要测PA的传递系数，PA需要调到工作点上。Q1:
但是如果是测试RFIC 输出端的输出阻抗呢，
1.如果RFIC工作在载波模式，可不可以直接测量S参数?
如果RFIC工作在调制模式呢?
可以的话，希望能简单说一下原理。
Q2:
按照电路原理，如果是测PA(假设是三极管）端的输出阻抗，PA需要有直流工作点并且输入端需要匹配。
那么如果不知道三极管的输入阻抗，需要怎么测量输出阻抗呢?大家拿到一个三极管，调试的大概流程是怎样的呢?

现在很多非微波射频专业的人都开始做基于RFIC的产品,这些问题肯定大家都会碰到，希望牛B的朋友能给稍微讲一讲，普渡众生，谢谢。[/td][/tr][/table]

PA的大信号输入阻抗可以通过矢网测试得到，前提是矢网能够提供将PA推到你需要的输出功率的输入功率
PA的大信号输出阻抗确实很难通过传统的测试方法得到，一般是采用负载牵引的方法
至于问题二，一般测试的时候是按照一定阻抗的测试线为标准来测试的，比如较常用的50ohm。比如测输出阻抗，输入端就端接50ohm负载

谢谢小编释义，关于第一个问题想再确认一下，RFIC输出端的输出阻抗是不是也不能直接用网分测试?因为工作时已经有载波或者调制波输出。
那么假设我们有一个RFIC射频部分的设计任务，阻抗匹配部分调试的时候顺序是不是这样：在文档上找到RFIC的端口阻抗，文档上找到PA的输入输出阻抗（芯片资料上往往只有一个圆图，或者给出的数据和我们的工作点不相符，所以还读不到精确值，只能猜测一个大概值），测试天线的输入阻抗。然后根据这些端口来仿真或者理论计算出电路，然后调试，既然带载波的主动器件端口不能直接用网分测试，整个设计过程中网分除了可以测测天线阻抗，起不到别的什么作用。
不知道我理解的哪里有问题呢?谢谢！

输出阻抗的定义是在输入端接匹配负载时从输出端看进去所呈现的阻抗，和输入什么信号没有关系。只是PA的大信号状态需要在有一定输入功率的情况下才会呈现出来，所以用矢网无法直接测试PA的输出阻抗。通过负载牵引系统来动态改变功放的输出端接阻抗就可以通过测试输出功率来反推PA的输出阻抗。
射频/微波频段的模块一般都是针对50ohm系统来调试匹配的，然后再集成为系统。
希望对你有帮助

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