请问在ADS中如何仿真transformer的插入损耗

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请问在ADS中如何仿真一个用来实现差分信号转化为单端信号和阻抗变换功能的片上集成变压器的插入损耗，谢谢！

back to back sp analysis

用back to back反应的不是真实的插损，这样仿真出来的插损很小，
而应该把port1,port2的端口阻抗都设为50ohm，直接仿真transformer的插损。
举个例子，你可以设N=2.236，那么就得到一个50ohm到10ohm的transformer,插损应该在
3dB（~0.7）左右。

请问back to back sp analysis具体怎么仿真？
例如对于一个1：2的transformer，连接负载是50欧姆，是否可以将port1的阻抗设为12.5欧姆，连接到一个理想balun的差分d端，再将balun连到transformer的输入端；
transformer的输出差分信号通过另一个balun转为单端信号再连接到阻抗为50欧姆的port2上，然后看S21，是否S21可以反映transformer的插入损耗？
谢谢！

SP仿真的term既可以当单端，也可以当差分。所以还是可以用两端口去仿真，一个端口neg port接地，另一个端口直接接差分端的两端。

两个相同变压器背靠背，左边变压器输入加一个port，右边变压器输入接另外一个port，
两变压器之间并一个电容来谐振掉电感，然后sp仿真得到s21，insertion loss = s21/2

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