測量SMA接頭損耗

這真是個有趣，也很實際的問題。
看法1:
可以找個接近完美的端阻抗(例如VNA的校正端子中的LOAD)，而且它是可以和想要測試的接頭端子在機構上是相匹配的。如此一來全部就都解決了。S11，可以在VNA校正果妥當之後，接下待測端子，這端子接上端阻抗，就可以讀到S11了，那你會說S21怎麼辦?
其實可以從S11算出來。例如讀到S11是-40dB，那麼它的S21就是-20dB，為什麼?這留給各位思考一下！
看法2:
樓主提出的想法，設計一個待測頻率的完美微帶線，然後接上待測端子，不過這會相對地非常複雜，因為這有兩個接頭，會有四個參數C1S11，C1S21，C2S11，C2S21，這就會有更多的假設，假設接頭C1與接頭C2是相同的，設計的微帶線是完美的，這樣讀到的S11是不是就是待測接頭的S11，而把讀到的S21除2，是不是就是待測接頭的S21，這就要許多假設與推導。
在測試設計當中，會有許多答案，而最簡單的會是最佳的方案，例如2/1=2會是好方案，當然4/2，8/4，200/100，4/1開根號，1+0.5+0.5等都會是2，其中以2/1最簡單。

針對我提出來的測試方法，發現到若照這樣去測試的話，好像測到的是微帶線的S11及S21，而並不是接頭的損耗。這還挺困擾的....

bv5oc 大哥提出的（讀到S11是-40dB，那麼它的S21就是-20dB ），是不是因為S21為半功率衰減的意思呢?請指導....
另外，（在測試設計當中，會有許多答案，而最簡單的會是最佳的方案，例如2/1=2會是好方案，當然4/2，8/4，200/100，4/1開根號，1+0.5+0.5等都會是2，其中以2/1最簡單。） 這句我也不懂....