VNA测量单口器件是否需要SOLT校准?
12-12
VNA的guide上对SOLT校准有如下描述:
Transmission or reflection of highest accuracy for two-port devices.
那么如果仅需要测量芯片的输入阻抗时(即单口器件),SOLT校准应该不是必须的,而且单口校准应该能够获得同样精度的结果。换言之,将SOLT校准用于单口器件的测量,有浪费之嫌。
不知我上面的理解是否正确?
Transmission or reflection of highest accuracy for two-port devices.
那么如果仅需要测量芯片的输入阻抗时(即单口器件),SOLT校准应该不是必须的,而且单口校准应该能够获得同样精度的结果。换言之,将SOLT校准用于单口器件的测量,有浪费之嫌。
不知我上面的理解是否正确?
一定要注意,对于单端口器件的测量一定要用单端口校准,如果利用标准双端口校准
产生的结果是错误的。具体分析可以看误差模型。
真的啊?
.88
啊?
不会吧。。。头一次听到这种说法
对双端口器件的测量现在用单端口校准和双端口校准S21有很大的差距
双端口校准调试的时候S21与S11的变化情况不匹配,可以确定有 问题
但是找不到理论支持
.55
测 S21 用单端口校准肯定有问题啊
根据 12 项误差模型,只要用到了俩端口,用单端口校准就不能去除所有的误差
至于双端口校准还有问题,那就不知道为啥了。。。
用双端口校准,调试的时候明明s11变差,s21还更好
无源器件,肯定是违背常理的
.55
是说 S11 和 S21 同时变大了?那也许是你损耗变小了。。。
无源器件,有可能么
s11变大,损耗肯定变大
.55
可能啊,我说的损耗是有功损耗,和 S11 没啥关系
实际器件都是有耗器件,有 |S11|^2 + |S21|^2 + 有功损耗 = 1
也许你调试的时候,有功损耗变小了,理论上说是有可能的
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