求救，MTK ATE测试APC校准不过

05-08

MTK ATE测试在生产线使用CMU200在测试到APC时，无法通过，但是在实验室中用8960测试都通过，请问如何解决。

我认为通常情况下用修改RFLoss来解决类似问题，一般好像不起作用。当然楼上说得的确是一种方法，设置有问题也不行小编是在APC Cal还是APC Check的时候无法通过?我遇到的一般是APC Cal没问题，APC Check会出问题。一起交流一下，看有什么好办法

我们在经常碰到这样是事情，在测试到APC的时候CMU一点反应都没有直接fail。这样的现象一般都是因为cmu反应慢而造成的。最好的解决方法就是重新扫描NI的驱动，100％有效

我们工厂生产MTK方案的机器也有同样的问题，一般是APC cal没问题，APC check会出现问题，我的处理措施是：1、先确认不良的比例，看是否为硬件贴片问题所造成的。2、和金机作对比，如没有太大的问题，将功率的范围作适当的调整。3、修改SLOPE值。

我们生产时也遇到过类似问题，当时采取的是重测（即在一套系统上测试FAIL、在重新到另一套系统上进行测试）一般可以PASS。不过此类问题在CMU200上出现较多，如果条件允许小编不妨使用8960进行测试。

我测试的情况和三楼的一样，APC CAL ok，但是在check时就出问题。

APC CAL一般是没有问题的,关键是APC check时出错,因我们在APC CAL时只是取样测试,而在CHECK时是根据SLOPE对所有信道都检测,从中可能是测试值本身就接近极限值,仪器本身也有误差(比如使用时间长了过热等),还有就是RFPA本身性能不是很好(如RF5146就比RF3146要差上些)这样就会导致一部机要测试好几次,有时可以PASS,有时FAIL.关键是产品本身问题.(产品的性能不能打擦边球的)

其实还是cal算法不合理造成的问题取样进行APC Cal，根据这几个值根据算法去推算其余PCL的值，如果算法不合理，推算出的值就不合适，当然APC Check时fail。

我这边出现GSM APC 较准 fail 或测试时到该项出现自动关闭测试程序，跪等求解
GSM APC 较准 fail 或测试时到该项出现自动关闭测试程序，导致不良率高达20%。[
1. 目检/照X-Ray/目检PCBA未发现process问题[
2. 重做D/L-SN- PASS,B/T测试GSM APC校准FAIL,[
3. TOUCH RFMD3166后测试B/T ,仍为GSM APC校准FAIL[
4, 重装RFMD3166 后测试B/T ,仍为GSM APC校准FAIl[
5 将10PCS该不良料装到B/T完全PASS的主板上做交叉实验,[
测试结果为原PASS主板全部为GSM APC校准FAIL.[
6 更换不良物料后,主板做B/T测试全部PASS.

大家有MTK ATE这个软件可以发一个给我?

如果要MTK的ATE软件，我有！
发邮件给我：lin_train@yahoo.com.cn
大概是26M左右

这个兄台做的６２２３的?

APC Calibration fail 怎么办了 ?

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