求助。EDGE多时隙下的测试
05-08
EDGE多时隙下的开关调制谱测试对时隙的配置有要求吗?例如说2上1下，是不是必须 up3,4 down3，mainslot3另一个UP时隙在主时隙之后，不能up2,3 down3，mainslot3另一个UP时隙在主时隙之前。 类似这样的要求有吗?3GPP哪一份文件对此有规定吗?求指教。
看到一份文件说不同的class等级要选择不同的时隙配置，如下图：
但是我一直找不到3GPP的文档来支持这个说话。所以求指教。
现在的问题其实很900MHz 下时隙配置为up3,4 down3开关谱就没有问题，如果配置成up2,3 down3就会FAIL。我传个GIF图，一看就很明白了。
EDGE900开关谱FAIL
帮你顶下
有几个UP就要测几个时隙的开关谱。没有说不能2UP3DOWN的，除非你的时隙配置有问题。UP3,4 DOWN 234应该可以测。
开关谱只能针对一个timeslot, 要看下你两个不同配置的means slot是多少了.
要么guard period, 要么 fall peroid有问题吧.
谢谢您的回复。
你说的是时隙配置有问题，像我1楼里说的，2上1下的情况下，mainslot 在3（也就是down在3）,up在2和3， 这种配置不能算是有问题的吧? 51010里也没特别指定说测开关谱要遵循一种什么特别的时隙配置。 我现在遇到的奇葩现象就是2上1下 up2,3,down3开关谱有问题，meanslot选2或3都有问题，就像我前面那个GIF图里那样，会突然跳起来。 如果2上1下换成 up3,4,down3就不会有跳起来的现象… 有人质疑我说我的时隙配置的不对，不应该把另一个时隙放在2,应该放在4。
谢谢帮顶
谢谢小编您的回复！
down3 up2,3 这个时候有开关谱会跳起，mean slot选2或3都是一样的
down3 up3,4 这个时候开关谱很稳定的，mean slot选2或3都是OK的。
您后面说的那啥啥period我就不太懂了
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