请问AFC校准失败的可能原因

05-08

信息：
ATE Tool Version:3.2.0
Part Number: SG6110
Serial Number: MTK00000001
Revision: W04.06
Batch: 01
Bar Code: 0907010907010343
Error Code: 301
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Enter into META Mode OK
IP2 Calibration time=0.000000
AFC Calibration OK
Slope=2.797000
Use Default Value=4726
Crystal AFC Pre check fail
请问可能是什么原因，谢谢！

换一个版本的试一下

CHANGE ATE TOOLS S/W VERSION FROM 3.2.0 TO 3.4.1！
TRY AGAIN

恩，这个crystal AFC我们这也测试不过，但是你可以换过一个版本的，因为这可能不是一个普遍的项目，用WILL‘TEK的时候，测试会显示tester not yet support

射频头顶针与射频开关接触不好或者给手机供电电源与射频线靠得太近以致产生干扰或者射频开关极性帖反均会出现出现AFC校准失败现象

关于你说的这个问题，请检查以下几个方面：
1、顶针与RF头是否接触良好，是否因没有接触好而导致损耗大了。
2、RF线是否损耗大，转换头是否不良。
3、主板是不良，如漏电、发射电流大，通话电流大等。
4、基带部分是否受到RF部分的严重干扰，可以为基带部分加个屏蔽盖试一下。
如果是普遍存在的问题，请检查仪器、校准软件可能存在的问题。

然后还有
1.线损太大，而你又没补偿。
2。crystal损坏，需要换晶体了。

CDAC的初始值设置的不对，频偏太大，导致AFC算法不收敛，不能跟8960或者CMU200同步。尝试修改CDAC值。

也可以更换一个铜轴开关,或者加焊一下天线开关

你的手机用了crystal了吗?是不是6226的芯片?

后来怎么样了怎么没结果呢.AFC,与晶振,和射频头没接触好有很大关系.

CRYSTAL_DAC1=3800
CRYSTAL_DAC2=4200

看看，路过

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