校准综测问题,求助!
05-08
在手机校准测试PASS之后,装成整机做FT测试的时候
发现有一部分FT测试FAIL,其主要都是频率误差超出了
范围.这些手机重新校准后FT测试就PASS了,问题应该是
出在BT.但是我有一点不解,BT的时候,软件里面有测试
频率误差的,,为什么会流出不良品?
GSM FER范围为+-90HZ,
DCS FER范围为+-180HZ,
我测试使用的是Aglient 8960 E5515C,电源为66309
虚心请教学习.
发现有一部分FT测试FAIL,其主要都是频率误差超出了
范围.这些手机重新校准后FT测试就PASS了,问题应该是
出在BT.但是我有一点不解,BT的时候,软件里面有测试
频率误差的,,为什么会流出不良品?
GSM FER范围为+-90HZ,
DCS FER范围为+-180HZ,
我测试使用的是Aglient 8960 E5515C,电源为66309
虚心请教学习.
兄弟,看看校准时候的OFFSET值,好运
谢谢!你说的OFFSET?是仪器的吗
是综测的
我建议你这样排除问题:
逐渐去除外壳,再做FT,或者手动查看PRE ERROR,找到是哪个部件引起的FRE ERROR。
很大可能是手机的SPEAKER引起的!
先仪器看看各项指标是否PASS,有可能是FT误测。
我们公司以前也遇到过这样的现象,只是换了另外一种26M就可以了,不过我想应该有更好的解决办法吧/!期待中!
这个问题描述起来比较复杂,简单点讲BT通过,FT不过,频差比较大,重新校准就能通过,这个很有可能是校准文件中的OFFSET值,设置比较的高,一般产线为了避免这个问题设置不能超过5。关于为什么是这样的。分析,可能是校准的时候BT过块,允许OFFSET值偏差过大!
建议你在CT的环境里,装上FT的测试装备试试。
5楼"小编"说是Speaker可能会导致频率误差大,能不能解释一下其中的道理? 谢谢了!
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