温度对综测仪的影响

05-08

哪位大虾能告诉我,温度对综测仪有什么影响? 对NTF 有多少影响?特别是对哪些项目的测试有很大的影响?综测仪的上限温度是多少(CMU200/8960/8820/WILL TEK4400/SP6010)?最好有系统的文件指标,谢谢各位了,感激不尽.[/COLOR]

再次谢谢大家了，比较急...！！

很大，对于CMU200 温度在0 和 60 摄氏度的量度差别会高达：功率：0.7dB, phase Error: 0.9度。其他的没测试过，不敢说。最好看各设备的技术指标。

谢谢,还有哪位朋友知道的更加详细点的吗?

这要看你用那个综测仪了,温度对综测仪影响比较大,不同厂家有部分差异,但测试仪一般都要工作在正常大气压下,也就是25摄氏度左右,如果要明确影响那些指标及上下限,有点牵强,各个生产商规格书都没有明确.

CMU200/8960/8820/WILL TEK4400/SP6010
主要还是前3项但是后面的后续会引进~~~~~~~~~~~~

我是搞手机测试的,这个我最了解,温度对综测仪的影响特别大,因为电子元件的都有个极限温度,当达到这个温度的时候,电子元件的参数会发生很大的变化,比如说一个电容常温下的容值是0.2UF,如果温度过高的话这个电容的容值就可能翻了几倍,这样的话他在电路中的影响就更大了.具体点说也就是温度会导致综测仪的某些参数偏移,甚至是失真.这样的话综测仪测试出来的指标就不稳定了,NTF就这样产生了.一般情况下对功率的指标和BER的指标影响较大.比如常温下测到的MS的发射功率是23Dbm,但是如果温度很高的时候,就可能是23.5甚至是24Dbm了.温度是任何测试仪的致命杀手.CMU的温度超过了45度就可能导致NTF,但是如果超出了50度的话就可能导致测试的指标严重偏移甚至导致仪器死机或者讯坏.LZ说的仪器当中,只有MT8820是散热最好的,其他的那几个我没见过,也没有听过.

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