调试ACLR问题

请查看下《高通RF技术期刊216-08-30》，page50。
P.S如果你无法获得该文档，请简要查看以下描述，看有没有帮助：
【问题描述】：ACLR指标在信令过程中变差。
【问题分析】：PA bias值改变会引起ACLR变差，当校准数据里的pa bias值与pa驱动程序里的值差别很大时，甚至会使ACLR变得很差。这是因为在信令过程中一旦需要PA OFF操作时，PA驱动程序中的BIAS值会被写入内存，而在PA bias仍然没有被更新时，在一个不恰当的时机一个MIPI 触发写的命令被发出来的话，就会导致不期望的PA BIAS值被写入PA寄存器生效。
PA OFF操作在LTE TDD频段会被请求，在LTE的SRS情况下也会被请求。
【解决方案】：需要保证PA驱动源码中和校准输入文件中的PA BIAS值一致，否则，在信令过程时，PA BIAS值会发生跳变，跳变值在大部分时候是TX校准NV中的BIAS值，有时候是PA驱动程序中的值。

以信令为准吧

以信令为准吧

正常，信令比非信令ACLR数据差，但有时也会好些，不同的频段，PA正常使用是在信令下的，所以以信令测试为准，很多PA都会有这种状况的，信令下电流也小很多有的

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非信令和信令下测得的功率是一样吗?

两者的功率一样吗?
B40 TDD频段，信令和非信令下时序应该有差异，导致功率是不同的。

一样，非信令是22dB，信令校准后是21.8左右

路过学习一下

原因是什么啊?求解

顶。

以前2手机发射功率是33dbm