官方淘宝店 易迪拓培训 旧站入口
首页 > 手机设计 > 手机射频工程师交流 > TD-SCDMARF 连续发射失同步操作测试(OOS)

TD-SCDMARF 连续发射失同步操作测试(OOS)

05-08
失同步操作测试了UE检测下行DPCH信道质量的能力,以及根据信道质量打开和关闭其发射机的能力。当UE估计到在最近160ms时间DPCH的质量劣于Qout时,UE将在40ms内关闭其发射机。当DPCH的质量未达到可接受质量Qin,UE保持发射机关闭。当UE估计到在最近160ms时间DPCH的质量好于Qin时,UE将在40ms内再次打开其发射机。 门限值Qout和Qin的质量对应于根据下行DCH参数条件不同的信号质量。对于下表中的条件,Qout对应的ΣDPCH−Ec/Ior的比值为-15dB,Qin对应的corΣDPCH−E/I为-4.5dB。在这个测试中,信道为下行参考测试信道(RMC12.2kbit/s),CRC比特用数据比特代替,使用静态传播条件。

在此测试中,对UE的要求为:
1.在B点之前UE不关闭其发射机。
2.UE将在C点之前关闭其发射机,C点在B点之后Toff=200ms(160+40)。
3.在C点与E点之间UE不打开其发射机。
4. UE将在F点之前打开其发射机,F点在E点之后Ton=200ms。
问问大神们这个连续发射失同步操作fail是跟什么有关啊


Top