屏灭、屏亮会影响天线耦合测试吗？

Wireless Desense的组成要素 不外乎三个
Noise Radiator Receptor


13楼大侠说
有时候传导测试时屏亮也会对灵敏度有影响
所以可以先测Conducted 看LCM On时 相较于LCM off时
有无Desense 若没有
那比较好办 直接从Radiator下手
以MIPI讯号而言 若Shielding Frame接地良好 自然noise是会流到GND



但我们知道 任何金属 若没接地 那它就是辐射体
包含IC的 Pin也是
所以若Shielding Frame接地没那么良好
则Shielding Can就等同于辐射体
会把noise辐射出去



或是会先Couple到Housing
若Housing的接地 也没很好的话
则此时会由Housing担任辐射体 把noise辐射出去



前述说过 若测Conducted时 LCM On相较LCM off 并无Desense
表示是测Wireless 天线装上去后 多了Receptor 才有Desense
此时可以从Radiator 亦即Shielding Can跟Housing下手



使MIPI上方的Shielding Cover，与外壳的的金属紧密接触，加强接地，



使其Shielding Cover上方的噪声，都能流到GND。
(前提是Housing也要接地良好 不然一样会从Housing辐射出去)



之前有人问 Conducted灵敏度很好
Wireless却有Desense
这情况 是否表示PCB本身没问题?
当然不是~！
上述就是最好例子 我们只是消除Radiator 让Noise无法干扰Receptor(天线)
不代表PCB本身没问题 因为Noise是从MIPI出来的啊
若测Conducted时 LCM On相较LCM off 已有Desense
这表示Noise老早已跑到Rx路径上 所以Conducted就已经测得出来Desense
这时要直接从源头Noise下手


首先可以观察 一样都是LCM On
亮度最大 跟亮度最小的灵敏度有无差别
如果有 那Backlight的DC-DC Converter那边就要下手


这时可更换C1503落地电容的值，
或是在C1506跟C1503之间，摆放一个串联磁珠，
来抑制其Boost Converter的切换噪声，
亦即使亮度最亮时的灵敏度，与亮度最暗时的灵敏度一样好。

接着可在MIPI讯号上，添加Common Mode Choke，


像MIPI这种差分讯号
通常着重于共模噪声的抑制，
因此在挑选Common Mode Choke时，
尽量挑选共模噪声衰减量大一点的，如下图:


下图黄色曲线，是原先的Common Mode Choke，
可以看到仍有一些Channel超标，
而换了一个共模噪声衰减量较大的Common Mode Choke后，
大致上整体皆有所改善，且已无任何Channel超标，如绿色曲线。

屏灭、屏亮会影响天线耦合测试吗?

屏灭、屏亮会影响天线耦合测试吗?

屏灭、屏亮会影响天线耦合测试吗?

屏灭、屏亮会影响天线耦合测试吗?

屏灭、屏亮会影响天线耦合测试吗?

屏灭、屏亮会影响天线耦合测试吗?

屏灭、屏亮会影响天线耦合测试吗?

屏灭、屏亮会影响天线耦合测试吗?

屏灭、屏亮会影响天线耦合测试吗?

屏灭、屏亮会影响天线耦合测试吗?

屏灭、屏亮会影响天线耦合测试吗?

屏灭、屏亮会影响天线耦合测试吗?

MTK平台，双核的手机带高清屏，屏亮屏灭主要影响天线灵敏度，最严重的时候达到十几dBm.无论怎么做屏蔽，怎么改软件都没什么用。最后还是有5~10dBm的干扰。怀疑是屏背光引起电源干扰造成，未得到验证，呵呵。

MIPI 屏对耦合影响 大家有什么好的办法不?
RGB的 我们经常 改改屏的频率
还有背光 有影响 你们是怎么处理的?

背光 大家现在都是用屏蔽罩 罩着 的吗?

MIPI LCD主要两个地方影响GSM low band。 MIPI clock和LCD的刷新帧率。
当然，MIPI也分command mode和video mode。如果是video mode的模式（mipi信号随时在刷新），那基本没有可能完全抑制掉干扰。

criterion

需要处理的

1dB左右算正常，超过得稍微调调

会，而且有时候会很大

会的。我们就要测试。烦恼啊。正在准备解决他。

主要排查下背光和驱动这块电路，该预留和加的电容需要有，如电源，数据，时钟线等。FPC走线也很重要，前期一定要评估好，主要注意地的处理。

会，元器件，FPC都是辐射源

panel屏，IC，FPC是主要的干扰辐射源，从这几点开始排查吧

可以分别观察屏在亮和灭的时候，天线测出来的功率是不是一样的，之前有碰到一个项目，屏亮和屏灭对天线印象很大，如果有影响，可能是屏的背光电路影响到了射频的工作！仅个人经验哈

这个问题一般是由屏幕IC引起的

会的。

除了硬件方面的原因，也可以换其他软件试试。

屏亮一般会影响到耦合的接收灵敏度，屏是静态和动态的有时候差异会很大。
首先检查和屏亮相关的开关电源，
然后的LCM的FPC是否接地OK,排除方法可以在屏亮是去掉BTB,
请不要忽略一点，有时候传导测试时屏亮也会对灵敏度有影响，这个和你的PCB布局有很大关系，可以先排除这一点。
希望对小编有帮助！呵呵

1，检查TP
2，LCD
3，背光芯片
TP，
TP 数据线和TP上的PPC,tp的走线
LCD 接地是否要良好，clock时钟频率，LCD 的FPC 泄漏。
背光芯片上加磁珠或者把背光芯片去掉/或者换个好点的性能。

通常会是背光或屏的影响

亮屏有可能会有无线干扰，可以排查一下panel，LCD IC，TP等，还有MIPI信号

又见Criterion

厉害 17#

criterion

MIPI LCD主要两个地方影响GSM low band。 MIPI clock和LCD的刷新帧率。
当然，MIPI也分command mode和video mode。如果是video mode的模式（mipi信号随时在刷新），那基本没有可能完全抑制掉干扰。

背光 大家现在都是用屏蔽罩 罩着 的吗?

MIPI 屏对耦合影响 大家有什么好的办法不?
RGB的 我们经常 改改屏的频率
还有背光 有影响 你们是怎么处理的?

MTK平台，双核的手机带高清屏，屏亮屏灭主要影响天线灵敏度，最严重的时候达到十几dBm.无论怎么做屏蔽，怎么改软件都没什么用。最后还是有5~10dBm的干扰。怀疑是屏背光引起电源干扰造成，未得到验证，呵呵。

哇，很详细呀。我公司主营手机研发测试用三角锥、耦合测试屏蔽箱耦合板、手机测试线等射频测试耗材，欢迎有兴趣的朋友与我们联系13714808569，陈先生。

可以让我们工程师帮你看看，测一下EMC辐射干扰方面的测试

会的,一般背光或屏的影响

现在都是4.5/5以上的LCD了。
如果锁定到MIPI导致的，FPC做好屏蔽和接地措施，改MIPI扩频点。
串口屏的背光驱动IC也有影响。屏全亮和半亮的干扰情况也不是一样的。
前几天遇到个PWM模式不止灵敏度差，2G调制谱也被干扰的一塌糊涂。一线模式就会强一些，但仍有干扰。

讲解的真好！

学习了！不只是屏幕打开 关闭有影响，摄像头的打 关闭也是有影响的吧！

高手啊，讲述的很透彻！

学习！

17楼貌似是大牛

17楼分析的很仔细

如果屏亮有干扰。肯定会有影响

学习了，有项目正好遇到过

有影响

影响多大是正常的啊?

做的好点的灵敏度影响也就2-3dB，差点的 4-6dB

又学了点

学习学习

屏亮灭跟camera的mipi速率都会有点影响