综测仪测试手机接收灵敏度

手机连接综测仪测试接收灵敏度时，比如LTE在测试座灵敏度能测到-97dbm，直接用cable线焊到收发芯片口能测到-一百多dbm，新手有点费解，接收过程不是从测试座经开关、滤波等器件再到收发芯片吗，为什么在测试座测到的还比芯片口差一些，求高手答疑解惑

相对应的在芯片口的功率也应该要高一些了吧。

相对应的芯片口的功率也应该高一些了吧，这样灵敏度就有改善。

插入损耗

开关、滤波等器件又不会为功率提供增益，加上INSERT LOSS，差2，3个db也很正常。

有点明白了，谢谢

请你在读一次ＬＺ提的问题好吗，笑了！

小编测的是传导?

是传导

芯片口的接收灵敏度肯定要比测试座的灵敏度高一点(DB值会高些，这个原来说错了)，因为RF接收从测试座再到IC port,会有一点pcb阻抗不匹配导致的损耗，绝对阻抗匹配是做不出来的。所以只可能尽量设计好pcb及器件选型来减少这块的损耗，论坛有高手解读过这块的设计，你可以查看下别人的帖子。

LZ的意思是射频口的灵敏度为什么比transceiver差，你仔细看问题了吗? 这都回答的什么玩意儿，

楼上的，你这么会回答，你怎么不回答，道理不一样吗！你妹的，就你知道RF端子的灵敏度DB值比芯片出来的要高，还是低?！愤青一个

看你楼上笑2个人就知道了，50步笑百步，你做不了百步，你也只是50步而已。大家都是50步。

中间经过的那些无源器件都是有损耗的

挺有帮助的帖子

能问个问题吗?
请问CMW500是如何进行手机接收灵敏度测试的?具体的测试原理是怎样的?
我也是新人，感谢解答

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