Inner Loop power 校准不准确

WCDMA 终测inner loop power E Fail,不良率有10%左右.可是这样的板子只要拿回去重新cal一次再终测就都是Pass的。

1.代工厂流水线生产手机,很高端的手机噢，WCDMA：前面两套校准设备,后面三套终测设备,用的都是8960.现在就是后面终测有10%的重测率，耽误产能.产线领导有意见.但我真的很郁闷,找不到根本原因所在. 量产了2年的老机型了,之前都没遇到过这样的问题.（WCDMA calibration不准）.做过追踪发现校准的两套设备都会cal出这样的不良(inner loop power).而且都是band 2 的channel 9800的E.
做过很多改善措施,问题依旧.
愿路过的各位大侠仁义出手相助,给点方向.感激不尽！

那可以看看校准工具的通信这块，关注下电平，看是否有脉冲或线的问题导致电平过低等

我只需要recal就能pass.终测端的值也很好.而且cal不准的只是一部分噢。
RD给出的解释是NV没有正常写入板子,导致。我靠。不会跟pc有关吧.或者是USB?
赶紧去试试..

更改下校准文件中的PA增益切换点，DAC的初始值试试。

是否软件版本升级的原因啊。

一般是PA增益等级切换点，可以调试好。

仪器我交叉更换过了.问题还是这样。

这个跟板子的供电稳定性有关系么?

测试一下仪器端口到治具的射频端口的带内平坦度。

Fail的点在哪儿?
线损补偿不合适，或者治具接触不良等原因，导致整体功率偏移的话，可能会导致PA功率等级切换点附近的内环功控测试不过

供电问题可以考虑在夹具上加大电容。

可能你得ILPC补偿还是有些问题，margin比较小。NV还需要优化。
可以试着降低切换点，因为fail功率点不定的时候一般都是切换点太高导致中低增益级高功率处线性不好，fail点就跑来跑去。如果点比较固定那多是切换点补偿的问题。
最后供电导致的问题也是有得，毕竟产线夹具的电源线一般都比较长。
仪器有问题的情况也有，曾经遇到过一个客户的仪器就是测试结果fail，但是我测没问题，最后跑去安捷伦的实验室做得验证。

我的問題得到了改善,問題出在NV補償值上面.被人更改過.改回后得到改善.但是還是有一部份這樣的情況.概率 馬虎能接收.
你也可以沖這點著手看看.我遇到的只有E,F會fail,功率點也是不定 隨機的.只是inner loop 都只是測中間信道啊.

最近在搞MTK 6577 BAND8 3085--3088信道fail 其它均ok
发现EVM 随着信道的增加而加大 2937 约3 3012 约 7 3088约 10
不知道是否与 EVM 变化有关 ，而且从B段开始 ，B,C,E,F,均有fail 且fail的功率点不定，有时在小功率 -3，-10,4,6等处，有时在 15,20,22等处，很是头痛，期待高人指点

电容一直有 50V 2200UF

我上面的问题的根本原因是QCN被人动过+PA原材差异等问题.很早就搞定了.
但是之后又变band5 4400 set E 21 凸起. 蛋都痛的变形了. PA原材的差异导致每天都有50pcs以上的板子下不去， 需要我们手动调试QCN放下去.
没辙了.

跟我们一模一样，RFMD 的PA 数量太多的话，都是调匹配就OK的