23D+AD6548+77552天线测试GSM低频频差超标，其它所有指标都很好

23D+AD6548+77552调天线点测所有RF指标很好，耦合测试时只有低频频率误差超标,其它指标都很正常，因为是四层板没有主地，1、在天线下面铺了层很大的铜皮并良好焊接到地后频差也正常，2、不铺铜皮,现将AD6548上VAFC串的电阻由参考设计的1K改为10K或100K后天线耦合测试频率误差也正常了，有没有谁碰到过这个问题！这样改会不会影响锁频时序和搜网?

改为10K还是可以的，改为100K就太大了，对与快速移动情况，会有问题。
1.你的耦合频差是负值吧?
大概有多大?-200Hz还是-1000Hz?
2.低频容易受影响对吧?而且是大功率等级下，如果小功率等级就没有问题。
推荐：
可以试验一下6223 B1pin VREF的退藕电容的地处理。这个地方可能引入干扰了。
在这个1uF电容和地之间串一个Bead（至少75ohm@100Mhz）的试验一下。
如果是这个原因，你的AVDD受到干扰了。你应该听到tdma burst noise。
而AFC也是由这个电源供电的。

强烈同意2楼兄弟的说法，我也遇到过这种问题。
主要原因是VAFC上有TDD， 如果不改layout 保护好VAFC（也许是AVDD受干扰，影响VAFC） ，在后端滤波，对VAFC 处理也可以解，只是串的电阻过大会有快速移动时掉网的风险，另外一般这种fail现象都是频率负偏，你可以在calibration 时让手机正偏，加Offset 补偿。
小编在天线下面铺地，其实应该是降低了天线的TRP，所以fail现象消失了吧?
所以根本的办法是改layout 保护好RF的供电。

谢谢！只有低频超标，频率误差在-300HZ左右，功率越大影响越大，

铺地没有影响到TRP，反而会提升功率！

发现在AVDD跟VBAT和VCHG都很多地方交叉，还有哪些地方会受到干扰！

最后是怎么解决的，改LAYOUT?AVDD受哪些影响比较大?

后续怎么解决的?