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关于高通CDMA平台的灵敏度问题

05-08
高通的单芯片方案6085,灵敏度总受屏蔽罩干扰。各位的项目灵敏度能做到多少啊?
元器件选型,Layout和软件方面有啥能改善的地方吗?

贴好点的吸波材料吧
至少能提高1db

貌似我们公司单模的可以做到-108,-109;双模的最少在-107吧;在天线暗室就差点吧

在射频出现的屏蔽罩的挡墙也需要挖掉0.3mm的高度,还有屏蔽罩的地孔一定要足够的多,以减少寄生电感电容。

对了,再问一下小编,降低TX功率对灵敏度有影响吗?我忘了我们当时是否有影响了,先确定是EBI1这儿的干扰。
还有,你们的layout有按照80-VC881-25来做吗?芯片的数字地和模拟地是否分割了?

坐着楼等。

恩,我们软件也是不肯改。有结果了一定通知

0.5dB啊,有些杯水车薪了。话说我们软件也是不愿意改。除了吸波材料,电路上有啥方法吗?

EBI1驱动能力,这个倒没有验证过,当时让软件给改来着,软件怕不稳定不肯改;
我记得EBI1有8级驱动能力,默认第4级,如果对DDR走线比较有信心的话,可以改成1级试一下;
有结果的话记得通知一下哈

是的,估计会有0.5DB的改善吧.可是试试吸波材料,或者在电路上想想办法

DDR的驱动能力?能说的详细点吗?是指EBI吗?

这种方法不适用于屏蔽罩上面紧贴着金属的项目啊。类似键盘板等电池等等的。

板测-108以上,在LNA前的几个器件对应的屏蔽罩上方挖掉,影响2DB左右,DDR的驱动能力可以减小点,

有过同等经历的路过
将屏蔽罩接收Pin的投影区挖掉吧,没有办法。

EBI1驱动能力可以按照如下更改:
由于EBI1分为读和写操作,driver端不一样,读的时候memory是driver端,写的时候6085是driver端,所以最好两边的驱动能力分别降低验证;
1. QSC6085端的驱动能力参考80-VC881-1 Rev. G的page311;
2. memory端的驱动能力要根据你所用的芯片查spec了。
个人感觉由于系统工作大多时候是读操作,传输数据时的终端反射最强是在6085端,应该最容易影响RX,所以预估memory端的驱动能力影响会较大一些。
遗憾的是这些想法当时没有得到验证,软件部的兄弟死活不肯改代码,希望能在小编这里得到验证

呵呵,不好意思。降低TX对灵敏度没影响。Layout分割没做。有个问题:80-VC881-25里面的电源和地能完全照做吗?似乎有的很困难啊。
EBI1的干扰不好确定。而且软件也不知道怎么改

降低TX功率对灵敏度有影响吗?我忘了我们当时是否有影响了,先确定是EBI1这儿的干扰。
还有,你们的layout有按照80-VC881-25来做吗?芯片的数字地和模拟地是否分割了?
小编没有回答偶的问题哟。前面提到过了。
如果layout没有按照SPEC要求,可以参照80-VC881-25进行优化。

又弄了几天,受项目的限制,贴不了好的吸波材料。话说厚的贴在RX上的确有效果。挖槽的方法是好用,但是前提要如高通文档那样分开器件才行。现在除了Layout和改EBI,没啥好方法了。
话说有人熟悉Layout和怎么改EBI吗?虚心请教:)

哦,是高通平台吗?仪器用的是CMU200?


这个的确是。好的或者是厚的。6085上,还有RX电路上。

小编,改EBI驱动能力后有改善吗?

哦,最后还是不理想。没达到我想的最佳情况。虽然项目可以卖,但是不满意
还是layout最重要。

具体处理看:80-V9038-54 :简单总结,数据线,控制线,时钟走第2层,表层地要处理好,线越短越好

6085的 DRAM出线是有一些技巧的,呵呵

小编,怎么样了?

最好地办法是把屏蔽照提高点,接好地,在接收区域把屏蔽罩挖空

MTK 射频漂过

学习了,

进来学习一下

我没做过6085,但是做过6075,都是贴吸波材料和按照规格书布线,再调调匹配,特别是IQ那边的匹配

好多高手啊,来学习下。最近有个6085的案子,也是开了槽,但又影响天线性能,无奈只好在开槽的地方再贴吸波材料。

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