急问:耦合灵敏度全频段恶化
05-08
做了一款手机,测试发现GSM900/1800传导灵敏度全频段都很好,达-108~-110dBm,但是空口耦合灵敏度GSM900/1800全频段都恶化了3~10dB不等。
RF和BB的屏蔽罩接地良好,有没有前辈碰到过这样的问题,能否给点建议,谢谢!
RF和BB的屏蔽罩接地良好,有没有前辈碰到过这样的问题,能否给点建议,谢谢!
应该是有干扰,因为TRP正常,传导下RXLEVEL能到-109dBm,BER就不行了;而耦合下RXLEVEL只能到-103dBm,BER就不行了。
如果是干扰,在BER接近2.4%时,RX level值很差,
如果RX level在BER接近2.4%时的值接近-110,就可以说明是天线的问题
1. 手机的TRP正常吗?可以看看,
2. 先确定天线单体是否正常,最后把匹配网络也量测进去看;
3. 检查下手机主板和组装件之间接地的地方是否可靠,
4. 看下手机的其它组件工作时是否影响,如LCD on/off,backlight on/off
咱看啊?
灵敏度不好有两个方面的影响:
1.天线不好
2.有干扰
如何区分这两个是哪个的影响,可以通过看RX LEVEL确定
就拿一块主板加上天线和电池,耦合灵敏度就恶化很多了。装上完整的整机外壳后,恶化会更多一点。晕,到底啥干扰会影响全频段呀,真奇怪!
告诉你 直接提CR 找M公司解desence
我去看一下耦合的其他指标,多谢2楼指教!
看来是受到辐射干扰了,可以尝试用屏蔽,逐步去掉天线附近的器件等方法确认下是什么收到干扰 干扰的途径等
小编可否描述下天线附近的环境
另外耦合发射的频率和相位误差如何?
全频段TIS,并且TRP正常啊——
摘屏摘键盘摘马达摘dc-dc屏改成静止。
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