高温下掉话问题，急！

现在遇到一个棘手的问题，手机和8960保持通话，置于50度的高温箱里，大概10分钟后会掉话。观察发射和接收射频指标都正常，AFC也在中间范围，频率误差正常。起先怀疑是晶振问题，但后来发现更换晶振后掉话问题依然存在。常温和低温下都正常，不会掉话。请教各位有其他原因会造成这个问题吗?

以前遇到过这样问题，是改软件解掉的，大概就是把sleep-->page这个过程的时间提前几个帧。

PAfan，你说的“把sleep-->page这个过程的时间提前几个帧。 ”是具体是什么含义?莫非你改动的是协议层的软件…………但是还是想不通，这于“高温”有什么联系?

T RFfans, 个人认为你说的不对。因为手机在打电话的时候是不会Sleep的。在想会不会是手机太热了，TI的平台就会一直检测VRIO的温度，如果太热就会做一些动作。

掉话的原因是不是误码率比较高啊！或者是power不够?电池会不会有问题?接电源进去试试，还有PA?

to r-snake&syang,是我说错了，我以为是standby时调网呢。高温通话时调网到很少遇到，不知搂主解决问题了么?

不知道小编的掉网情况是在接受电平值为多少的情况下出现的?

看看flash.

也可能和pa的性能有关系

不一定在芯片本身，也有可能与它的外围器件的温度特性不好有关，比如某个关键脚上的电容之类的。这个问题要解决就比较复杂了，一个可行的办法是看参考设计有没有这个问题或者以前的板子有没这个问题，然后去找哪些器件不相同，慢慢找，还得有点运气
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+3RD币

[此贴子已经被kingrain于2005-7-19 2:48:44编辑过]

是个别现象还是集体现象?

说实话，这种情况瞎猜是没有用的，只有小编自己一点点测，大家提提意见而已，讲讲自己的经验

这可不是猜，拓展一下思路还有很有好处的。

掉话： 1。电压不够。 查电源走线。 2。软件跟踪。确定是在什么状态下掉话。 3。灵敏度。同步。锁相环 带通滤波器，零极点。等等。 4。烤焦了，短路。-----------玩笑

是不是用的SILICON LAB的RF IC?这种问题可能是由于VCXO的原因.建议CRYSTAL换成TCXO,或者加个变压电容之类的.仔细调整CRYSTAL旁边的电容一定可以解掉这个问题的.

忘了讲了,CRYSTAL旁的电容最好用精度<=1%的.

我也碰到类似问题,有几种现,
1 是由本身发身过程中发热过大,手机自动检测到温度过高就自动关闭,这类型大部分是PA周边电路出问题或电源模块及周边有问题
2 是软件问题,在发射过程丢失贞

抓下trace看看， 可以发现问题的方向。


一般来讲， 可以从系统的运行平台稳定与否和通讯协议的执行状况看到问题， 然后从软件运行推出硬件的触发条件。

你用的什么测试卡，遇到过测试卡在高温时掉卡，搞了好久