同志们，朋友们，phase error问题 帮帮忙

新开发的一款直板机 有部分金属外壳（正反2面） 做整机天线偶合测试时 发现DCS的phase error 都飞了 光板时没有问题的 做了好多实验 把底面的金属外壳去掉时 没有改善 把上面的金属惟恐去掉时 彻底地好了 偶尔发现把上面金属壳上一个区域的绝缘材料刮掉后也好了 而且 壳的边缘部分（就一点点地方而已）是否刮掉对phase error有很大影响（刮的区域包含一部分机壳的边缘） 刮掉了 就好 不刮掉就没有改善 上面的金属壳是一个U字型的 刮绝缘材料的区域是U的上面2段 大约都是2CM 有什么没有看懂的 再问
请大家帮忙 分析一下

补充一点 天线在U的右上角下面 刮一边时 不管用 必须2边都刮

用金属外壳很有挑战的。小编能上传张草图么?这样才能更好的分析你的问题呀

红色外为刮绝缘材料的区域 天线是helix 在左上角 如图中的方框位置
后发现将左边刮绝缘材料的地方剪掉大约1.5CM也可以改善 可是结构已经不可以改了

上面白色的框框是塑料 图是用画图画的 难看了点 大家九将就点吧

金属惟恐是什么东东啊?

请问你的Transceiver加屏蔽罩没有啊?个人认为相差与这个东东关系最大.当然PA影响也很大,如果它没匹配后,才会受外界金属的影响.你看看PA部分吧

呵呵 是金属框 加了 单板是好的

请看看PLL和TCXO的屏蔽,有时把这部份的屏蔽金属去掉或加上,对phase error会有很大改善.

加屏蔽罩后,外边的环境对它影响不大啊！
所以不应该加金属外壳前后不一致啊！
有没有还没屏蔽的电路呀? 例如天线匹配电路等.

我也遇到过一件事情，不知道对你解决是否有帮助。 那款手机外壳里面要喷导电银漆，设计公司没有给出导电银漆的具体位置，所以注塑厂就都喷了。结果发现DCS怎么调都过不去，后来把天线螺母周围的导电银漆都刮去，DCS就过了。也许对你的问题不适用，只是大家借鉴一下。 新手上路

哪方面的指标没过去呀?
从你的现象来看, 还是导电漆影响了天线输入端的匹配电路啊.
估计小编的也是这种情况

天线周围的金属器件对天线性能影响太大了，尤其是主板是好的，装上外壳就不好了，一定要从天线周围的结构（尤其是金属结构找原因）

谢谢大家了 刮漆要刮很多的 而且结构又不太好大改 以前把前盖接地时 由于不太好接 是把前后盖先短接 再从后盖里面接到射频的屏蔽盖的 可能是这样接地效果不好 虽然有改善 但还是偏高 由于结构不能有大的修改 改变金属框的长度和形状都不行 还是在接地上想办法 后来 想了办法将前盖在2个地方直接接了主板的地 就彻底好了 结构也比较好改一点 分析可能是天线发射出来的信号 经上面的金属框接收了一部分 由键盘引入了主板 （键盘在上面金属框下面点的框框里 单独的PCB 通过一个CON和主板相连）

问问大家 大家的天线匹配电路在屏蔽框里面吗? 我的不在啊

我们的也不在里边,在外边.
因此 怀疑这部分电路被干扰,导致相差超标.

天线匹配电路后面还有testport啊 所以是不好都放到屏蔽框里面的呀

盖子接地后,还用刮漆吗?
你说由键盘引入主板,那你的主板上TRANSCEIVER屏蔽没啊?
如果屏蔽啦,不应该呀?就是你不加盖,也会由天线辐射进去干扰的呀.
有没有更合理的解释啦?
感觉小编好象在拿盖子当屏蔽罩呀, 接地后就好啦, 现象好象是天线辐射干扰主板.
但前面小编说过的,不加盖子也是好的啊,如何解释呢?
如果光板时辐射也不好,才能合理解释的.
(小编: 光板时是好的,是指辐射测试还是指传导测试啊?)
请大家讨论啊

一、盖子接地后,不用刮漆了二、光板时是好的,是指辐射测试和指传导测试三、上面的金属框应该不是起到屏蔽罩的作用，在一定程度上起到了天线的作用 当没有接地时，接收进来的信号通过键盘PCB上的布线的耦合 到了主板里面 接地后就到地了

做射频的老是在解决结构问题是不是很郁闷。金属的东西最好少用。

一和二明白啦.三不明白:
相差主要是基带出的事, 没盖上时,天线也会辐射到主板上的,此时没事, 盖上后,更不会辐射到主板上啦.
然而, 你刮漆后, 天线更易辐射进主板啊, 因此相差不会变好的呀,应该变差啊.
而且,基带应该是加屏蔽罩的吧.(你一直没正面回答我),应该不受天线辐射的影响呀.
另外, 对1800MHz来说,你只用几个点接地,外壳还不能算是真正接地哟！　（ＰＩＦＡ天线就有接地点的）
总之，不明白！请高人现身吧

老板要做金属壳的机器 偶们也没有办法呀 基带是一个屏蔽框 刮漆的问题偶现在也是搞不懂 接地后 接收进来的一点信号就到地了

19。5M的晶振在键盘PCB的下面 键盘PCB的CON也在基带的屏蔽框里面 这样 DCS发射时 上面的金属框接收到的信号就会影响到晶振了 接地就好了呀

这个解释合理！
CON是连接器吗?
我们的晶振是13MHz的.
你们的19.5MHz是用于锁相环最终输出900MHz/1800MHz的参考源吧?
如果是, 你解释非常合理.
毕竟整个信号和相位由晶振决定

是的 是的

是的X2=两个是的啊啊啊多谢谢小编又让偶见识了一种现象

内置天线的辐射场强受到手机机体的影响是很大的，手机的尺寸特别是长宽都是有讲究的，你是用了金属的外客，更是挑战，紊乱的场强会对手机内部的电路产生干扰，出现phase error很正常。

恭喜LZ顺利解决问题。但是个人认为，这个问题定位不一定准确。感觉上不像是Crystal受干扰，具体的验证方法还没有想到。另外问一下，LZ手机在Phase Error不过的情况下，是在每一个Slot都杂乱无章的，还是有固定的规律的?

Phase Error 飞了 呵呵

飞了?在Burst的前面一段有问题，还是后面一段有问题?能不能说详细一些

还有，也许我们在测试的时候，可以根据测试的现象、数据，想到很多可能性…………但是最重要的还是找出一个方法验证你的猜测。只有这样才能快速的提高自己的水平。个人意见，仅供参考！

mark！