微波端口的S(1,1)问题

12-07

我将网络分析仪的信号引出来,S(1,1)到了-8dB,好象太大了
一般多少是可以接受的 210.34.23.28

网络分析仪校准了没有？ 166.111.239.205

校了
我们的实验是这样的:网络分析仪接一根软的电缆,电缆末端接了一个耦合
小环,去激励介质谐振器,2端口也用小环耦合.
现在问题是反射是不是有点大 ,一般在这样情况下用什么样的电缆及耦合方式?
谢过了!
修改:gradoe 210.34.23.28
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为啥要接耦合小环？不能直接接上吗？
这相当于网络分析仪的两个口都接了衰减器再进行校准的
校准结果S11，S22都应该很差
我用Agilent的E5070B，直接校准S11可以到-70dB以下，接20dB衰减器后
校准只能到-20dB
166.111.239.205

没明白你说的意思,我的整个装置是这样的:
         ║                                     ║
         ║            网络分析仪               ║
         ║▁▁▁▁▁▁▁▁▁▁▁▁▁▁▁▁▁▁ ║
                 ║port1             port2║
                 ┇                       ┇
                 ┇电缆               电缆┇
                 ┇                       ┇
                 ╚┉┉○    ●   ○┉┉┉╝
                      小环  介质  小环
校准的端面为port1,pont2,这样有什么问题么?
210.34.23.28

那你的测试端面是哪里？
如果也在port1, port2的话那可能是校准有问题或者网络分析仪有问题
但是如果如上所述，你画出小环和介质做什么？呵呵
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因为从port1,2是直接跟一根电缆相连的,电缆出来就是偶合环了
那校准只能从port1,2开始做.测得的S参数也只能以port1,2为参考面
210.34.23.28

我的意思是，校准的时候必须把除DUT之外的东西
全部校准进去，包括电缆，如果你的耦合环不是DUT，
也必须校准进去
如果你校准端面在网络分析仪的两个端口，那按照你
的图测出来的是包括电缆、耦合环、以及DUT在内的
S参数，如果你只需要DUT的S参数，你还得分别求出
电缆、耦合环的S参数，然后再推算，好麻烦，呵呵
修改:wzqwd 166.111.239.205
166.111.239.205

也考虑了你所说的
但是如你所言,该怎么校准呢?
210.34.23.28

班组应该把这张图g上,哈哈
166.111.66.192

建议你把耦合环输入输出用接头（N or SMA）引出
便于校准 166.111.239.205

建议做一段50欧姆微带线。两端接port1 ,port2,把介质块放到带线侧面
间距1mm以内，就可以测出介质块的谐振频率。 61.149.49.55

还是去做一个测试器件得夹具
就像安捷伦测试资料上说得那样
以后测起来也方便
再作一个校正夹具
就可以了 202.120.182.120

yeah~
我有一点很奇怪，为什么把评估板叫做fixture（夹具）？
校正夹具又是指什么？
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我觉得把耦合环in/out加上connector比较好
否则不好校准，测试的结果会有很大出入 166.111.239.205

测介质块据我所知没有用环测的。环主要是来进行近场耦合用的。
微带线测量是最普通的方法拉。
如果介质块比较薄可以用电容法测其介电常数。
修改:yixr 211.71.139.11
211.71.139.11

呵呵,不一定的, 你不用静场模式分析不就可以吗.材料测量这
方面专门有研究的,你可以查查文献,结论应该是可以上G，但
在固有谐振频率附近，误差较大。
211.71.139.11

这边有一台电容法的agilent仪器,只到10M
电容法做G以上的还确实没看到过
210.34.23.28

根据SOLT测试法，自己设计一个，不是很复杂吧，
然后找个微波厂做，上海有一个厂可以做这玩意
202.120.182.120

评估板叫fixture？没听说过
我指得校正夹具是根据SOLT法做的 202.120.182.120

微波材料测量可以用开式谐振腔法测
信号通过天线耦合，跟环耦合形式差不多
不过这套谐振腔作起来满贵的 202.120.182.120

是不是LCR测试仪
4286之类的吧 202.120.182.120

可以啊
做成圆柱体状
测它的S11的谐振峰，得到中心频率，带宽，损耗
可以换算得到介电常数，损耗 202.120.182.120

我确实不明白。介质块做成圆柱状放到腔体里，用环激励,是这样吗?
我没有看出它比微带线激励有什么优势,如果是给定介质怎么办呢?
211.157.10.199

微波探针台我用的不多. 微波s参数测量一般用接头或者探针.
后者主要是测量小尺寸芯片级的器件,探针是50欧姆的共面探针,
地和信号线的间距是几百微米的量级.在探针台上通过机械装置压在
信号线进行测量.具体的还是要用一下才有了解.
211.157.10.199

呵呵，那我就不知道了
我们这里测试微波陶瓷的性能设计的测试方法就是这样的
激励是用环状天线
介质必须做成圆柱体，而且直径，厚度都有要求，不过可以随腔体大小可以调整 202.120.182.120

就是测试用的夹具，比如测电容，器件的
4286有自带的夹具，测电容时把片子夹在上面的 202.120.182.120

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