刁钻疑难：如何在平面波激励下观察S参数
05-08
最近看了一篇文献：
《Low-Cost Multiple-Bit Encoded Chipless RFID Tag UsingStepped Impedance Resonator》
C. M. Nijas, U. Deepak, P. V. Vinesh, R. Sujith,S. Mridula
关于无芯片标签的文章，文献中的模型提出：
The finite elementmethodbased Ansys HFSS software with plane wave or linear antenna wave
(used for thesimulation of far field of a linear antenna)
excitation is used for simulationin which the source is placed at a distance of 10 cm above the tag.
《Low-Cost Multiple-Bit Encoded Chipless RFID Tag UsingStepped Impedance Resonator》
C. M. Nijas, U. Deepak, P. V. Vinesh, R. Sujith,S. Mridula
关于无芯片标签的文章，文献中的模型提出：
The finite elementmethodbased Ansys HFSS software with plane wave or linear antenna wave
(used for thesimulation of far field of a linear antenna)
excitation is used for simulationin which the source is placed at a distance of 10 cm above the tag.
但是他所有的仿真结果观察的却统统为S参数的结果，
但是，我自己学习到的知识是， 如果激励添加为Plane Wave 中Incident Wave
在 查看结果Result时候 没有S参数选项啊，只有RCS参数选项。
因此 想请教各位大神，按照这篇文献的讲述的
在平面波激励下 仿真结果如何观察S参数?
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