CST如何利用探针求出S参数

求解器：时域求解器
入射：平面波 正入射
边界：open 和 周期
结构：3000nm 空气(1)和 3000nm 玻璃（1.5）
理论上可以算出，电场振幅透过率平方为0.96
但是如果通过放探针探测电场振幅除以入射振幅求出来的数值完全不对，请问是什么原因，正确的做法是什么?

而且，对于同一均匀介质，入射平面波设置1V/m， 在多个波长外放致探针，如果改变介质的折射率，探针检测到的电场振幅居然会变，比如介质折射率为1，探测到的是1，折射率为1.5，探测的就是0.84了。不知道是什么原理。

真实奇怪的结果，而且在频域求解器中也存在同样的问题，通过探针的方式得出的投射谱和计算结果是不一样的。

嘿嘿。用探针测s参数，我之前做天线仿真的时候也试过，我在之前的帖子里面也谈过，这是一个很蛋疼的问题。
首先，你用测到的电场幅度去直接除激励，如果你除以的是理论的激励值的化，我基本可以确定你得不到cst直接计算给你的值，因为cst在计算中使用了一个隐形的归一话，你加的电场是1v/m，实际计算中可能是0。8v/m，至于为什么这么做我也不知道。
还有一点，如果是需要计算s参数的话，因为参数S_{11}\,、S_{12}\,、S_{21}\,和S_{22}\,给出的是每一端口的反射功率波与入射功率波的关系。所以应该是反射场除入射场，比如说我们假设全场为Etotal,入射场为Einc.则有反射场Ediff = Etotal-Einc。你用探针测得的是Etotal，所以正确的算法应该是FT{(Etotal-Einc)/Einc}.其中Einc应该是归一化以后，在cst计算中真实的入射电场值，及你定义的理论值乘上一个系数。我用这个办法算过天线的s参数，得出来的结果和cst直接计算出来的结果完全一致，我不太清楚在你这个问题里面是否适用。
关于第二个问题，也需要注意你探车到的是全场，而不只是入射场或者是放射场。如果你已经做了减法，则需要注意你减的入射场要是cst真实计算中的数值。用商业软件就是这点不好，因为他有很多计算过程是隐性的，计算中的物理参数并非完全受你控制，所以你要确定你设定的物理条件是否就是cst计算中的真实条件，商业软件在计算的时候因为数学需要常常会做一些隐性的归一化或者等效变换，这样就会导致方针的最终结果是对的，但是如果我门提取一些中间结果，然后用自己理解的物理模型来计算，就可能导致最终结果和软件输出的不一样。这也就是我现在为什么要苦13的自己编写仿真代码的原因。
我搞电磁学算是半路出家，本科和硕士阶段都没怎么系统的学过，用cst也不到半年，如果有说的不对的还望各位大大出来指正，以免误导他人。

好的，非常感谢！

利用DFT变换算反射没问题，透射问题还是一样的。看来对于多介质仿真探针不能在FDTD求解器下做定量分析了。