CST MS平板屏蔽效能

各位大侠好：
        我想请教一下，再算平板屏蔽效能时，为什么将平板设为真空和将其删去的仿真结果不一样，且设置为真空时测得的信号只有几百毫分贝，不符合常理，谁能帮我解释一下，不胜感激
        （cst ms工作室：
          1. 激励为平面波；
          2. 平板材质为Al，尺寸：长宽高非别为100，100，2  mm；
          3.  接受探针：位于平板中心后50 mm）

上传模型看一下吧。

这个知道了，是因为将平板去掉后探针处于网格外，计算无效。但还有一个问题，计算有缝隙箱体的屏蔽效能时，为什么在8mm之下的场强值异常的大，且为一条直线

我想，这个问题你需要给出你平面波激励的主要频率范围，或者给出你仿真的频率范围。一条直线，是指在频域是一条直线?我猜想是不是网格不够密，无法分辨你的缝隙。

激励是直接用的平面波，仿真频率已设置，从1KHz至1MHz

上传模型吧，这样算命很难的

做屏蔽效能，这个频率范围好像太小了

1MHz的上限频率，最小分辨尺寸为多少，你可以看一下，应该是你没有分辨出8mm这个缝隙。你可以将最小的网格尺寸调整为2mm尝试一下。估计会算的很慢。

确实是最小网格设置问题，多谢您

不好意思，是我着急写错了，1kHz-1GHz