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CST MS仿真腔体屏蔽效能

05-08
我用MS仿真带孔腔体的屏蔽效能时,在有无腔体两种情况下,监测腔体中心点处的电场值,然后将两种电场值进行对数运算,得到有孔腔体的屏蔽效能,可是我在仿真时,我发现,我得到的结果中,没有腔体时的场强值要小于有腔体时的场强值,这和理论上不符合啊,理论上来说应该是没有腔体(没有屏蔽体)时的电场值应该很大才对,是我仿真时有什么错误的地方吗?我在仿真没有腔体时就是监测了自由空间中的电场值,MS里面没有任何模型,网格选择的是100%,这个是不是有问题?

这个不一定的,有可能腔体在某个频点处强谐振,这样的话SE是有可能为负值的

哦,懂得啦!多谢大虾!我还想请问一下,我在使用MS仿真腔体的时,我选用的是 TLM(传输线矩阵法),TLM是用于处理对称的问题,那我在检测腔体内部的电场值时,为什么可以检测任意位置的值(该位置不是关于轴对称的)?而且TLM在MS中也可以处理不规则的腔体结构?

TLM的应用中并无结构对称性一说   复杂的腔体照样OK

您好!我在进行这种仿真的时候探针的场强有波纹,看教程说应该用AR滤波器,但是我琢磨了半天也没弄出来,都是提示No ar-filter results available,能稍微详细的讲解一些怎么加ar滤波器吗?谢谢

是计算屏蔽效能吗  这里应该用AR滤波器没什么用的,因为主要关心的是探针处的场强值,AR滤波器可能不起作用吧
你把仿真结果中Energy截个图发来瞧瞧

energy是看什么的呢?发一下我的探针测得的场强吧。



你看这个图包络形状符合理论,但是波纹很大,看教程应该是用ar滤波器,但是“AR filter for port signals“这个选项是灰色的,具体应该怎么设置呀?能留个qq之类的联系方式吗?

应该用“AR-Filter for Probe Signal”这个选项。

也是灰色的。是因为时域TLM求解后不能用ar滤波器吗?

没用过TLM,不知道。


你可以试着加长仿真时间,达到微秒级试试。

改用时域仿真后用AR滤波器了,问题解决了,谢谢你

我不是很懂,那TLM要求的是什么对称?

T可以用AR,TLM好像不能AR滤波器

嗯,我也发现这个问题了,所以就换时域仿真了

建议还是使用TLM,因为可以使用精简模型,可以适当增加仿真时间,这样得到的曲线纹波就会少很多

谢谢你!刚好我的这个仿真量不大,用时域图会好一些谢谢

我仿真时发现加长仿真时间会使波纹较少很多,可是这是为什么?麻烦指点啊!

Field energy降低了。
CST MWS帮助文件《Time Domain Solver Performance Improvement》。

我也在做腔体SE研究,腔体外测得的E值过高的话,可以把Probe的位置放得再远点,我试过,离腔体越远,越接近激励的值,应该是谐振的问题。我用的transient solver, AR滤波器效果不错

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