电流路径，谐振频率，辐射强度的关系

请教一下各位：我仿真好了一个天线，如下图有两个谐振点。根据电流路径产生谐振点的理论。经过仿真，发现产生1G左右谐振的路径是路径1，产生2.7G谐振点的是路径2。但是问题就来了：
1、从HFSS仿真的磁场分布来看，路径1的磁场很弱，路径2的磁场很强，为什么损耗却正好相反呢，路径1损耗小，而路径2损耗大，这个有必然的联系吗
2、我主要用的是RFID应用中1G左右的谐振点，请问电流路径2的磁场能否使RFID标签有一个很好的感应，就是说电流产生的磁场感应和相应的频率是否有一一对应的关系

谁来帮帮我呀

什么意思。 “就是说电流产生的磁场感应和相应的频率是否有一一对应的关系”   特别这句，想问谐振点和频点对应否?

还是看图说吧
我做的是一个RFID的天线，经过仿真发现有两个谐振点，就像原文里的图，我要用的是1G左右的，仿真发现改变改变矩形挖槽的大小可以改变谐振点，而与里面环绕的长度无关。里面环绕的长度产生的是2.7G的那个谐振点。也就是说产生1G的谐振是靠电流在矩形挖槽的周围的流动而产生的。
问题就是现在从图中可以看到矩形挖槽的电流强度很小，而里面环绕的磁场很强。请问我用一个1G左右的RFID标签能被中间的环绕处的磁场感应到吗，这就是我说的标签的感应是否要和相应的电流路径一一对应的问题，谢谢了