请问CST MWS I算法求解单站RCS是否可以进行扫频设置

如题，利用I算法的 Fast RCS Sweep求解单站RCS是否可以添加扫频设置?如果有如何添加?
因为需要，必须计算一个介质目标的单站RCS，所以A算法用不了了。而I算法里面的快速RCS里又没找到扫频的设置，我知道有双站远场监视器的宏，但是单站RCS就不知道怎么办了，请各位大大帮忙解答

看看在这里设置一下from to能不能解决扫频问题。

提供一个新思路，如果是介质的话可以用涂覆操作，这样就可以在A中仿真了

感谢小编提供是思路，您提供的方法测试不可用，提示扫频只能在S参数定义下使用
不过可以再下面Single Samples里面手动多添加几个频率。

可是用涂敷的话岂不是要加入PEC材料了，要是计算的就是单纯的介质材料呢?

这个我倒是没考虑到，要是只有介质的话  就只能用I了

翻了下help,A算法简介
Please note: The solver currently only supports scattering at PEC or surface impedance type objects with vacuum background materials and open boundary conditions.

概括起来一句话：A只能求解真空中无耗媒质的远场问题

那有人用T求解器计算过PEC上涂覆材料吗

你说的Single Samples是所谓的后处理模型吗 或是在列表中的farfiled下吗 那里的RCS好像是双站RCS啊

不是，2楼图片那个窗口