边界条件和激励源

“一直介电常数测厚度，或一直厚度测介电常数”，一直?

不知道你这个你美国人有一个进场扫描测试介电常数的专利是不是有关。
如果是这个专利相关的，仿真可能是不能模拟的，系统太复杂了。
就你的问题，边界都是open，激励比较麻烦，波导口是1端口，介质的下表面是2端口。你要仿真的是S11的幅度和相位。

小编留言：

波导口是1端口，是靠近介质的一侧还是另一侧?如果是另一侧的话，波导长度有影响吗?波导长度（沿z方向）怎么确定?谢谢

谢谢了，我的和什么专利无关。我就是想通过反射系数来表征介质层的厚度或介电常数

介质层为多层，并且最后一层为无限厚度的话，怎么建模?多谢