求高手指点，利用momentum对传输线结构仿真及特性分析遇到问题

毕设要求是利用momentum对传输线结构仿真，并利用仿真得到的S参数求特征阻抗随频率变化关系。
微带线结构

 

M2层 厚度3.4um，电导率 3.05e6；

介质层 厚度6.53um，介电常数  4.25；

M1层 厚度0.24um，电导率 4.167e7；

Substrate 厚度300um，介电常数  11.9。

M1层金属基板尺寸455um*2000um，M2层微带线尺寸25um*2000um。

port1&port2口都设置的是single mode，分别在微带线两端。

网格剖分设置

仿真得出S参数，然后将结果保存为S2P文件,设置如下

最后在原理图建立如下

通过文献知道S参数求微带线特征阻抗的公式

所以在MeasEqn中输入公式 Z=50*sqrt(((1+S(1,1))*(1+S(1,1))-S(1,2)*S(1,2))/((1-S(1,1))*(1-S(1,1))-S(1,2)*S(1,2)))，
在SNP1中加载weidaixian.s2p文件。
最后仿真得出的结果竟然是这样子的

两点商讨一下:)
1. substrate设置。M1层floating，应该加via hole 接地或者加ground port 。btw, 如果表示无误的话，这个传输线结构挺诡异，M1层如何接地是个问题
2. 阻抗不用加dB，并且在data display window 中可以直接输入公式，没有必要输出s2p，再导入用measeqn
关键还是momentum substrate设置