关于PA输出驻波测试原理

[img]http:///file:///C:UsersAdministratorAppDataRoamingTencentUsers2220669198QQWinTempRichOleH3[R02YU~QV_6RK3E{OM@P9.jpg[/img]ADS学习：关于PA输出驻波测试，我看到《微波工程》里面谈到了，原理图在附件中，有一个不理解的点事，感觉回波损耗就是方向性D，这个我们测试原理不懂。

我来解释小编的疑问，你的问题在于错误理解了方向性，你把2个情况下发生的耦合的两个方向性混到一起了，所以理解为回拨损耗就是方向性D了。
先说方向性的定义，在输入一个信号Pin，耦合度为C，耦合口功率为Pin-C，在隔离口由于奇偶模信号没有完全抵消，隔离口输出功率为Pin-C-D.
我分情况来说明，假设耦合度为C方向性为D，输入功率Pin ，反射功率Pre。
第一种情况，正向耦合口功率为Pin-C，此时对于正向的隔离口的功率为Pin-C-D
第二种情况，反向耦合口功率为Pre-C(对应正向的隔离口)，反向隔离口的功率为Pre-C-D（对应正向的耦合口）
所以在耦合的耦合口和隔离口，分别存在2个功率，一个口有正向耦合功率、反向隔离功率，另一口有反向耦合功率，正向隔离功率
回拨损耗的定义为Pre-Pin=反向耦合口功率+C-（正向耦合口功率+C）=反向耦合口功-正向耦合口功率，小编就理解为方向性了，但是此时正向和反向耦合是2个过程，分别是从两个端口进入信号的，方向性是对应于一个信号，一个过程而言的。
说的很细啦，希望小编理解了

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