使用@nsoft de$igner如何快速进行标准化测量?
05-08
使用@nsoft de$igner如何快速进行标准化测量?
例如DDR2/3中涉及到的tDS、tDH、CLK的时序与抖动统计计算、tDQSS等,读写时序的逻辑控制
如果通过编程的方法实现自动化测量,有熟悉的朋友么?
有那些思路、方法与例子呢?
例如DDR2/3中涉及到的tDS、tDH、CLK的时序与抖动统计计算、tDQSS等,读写时序的逻辑控制
如果通过编程的方法实现自动化测量,有熟悉的朋友么?
有那些思路、方法与例子呢?
支持一下
顶帖
呵呵
看过一些例子 感觉想自动化需要编写脚本效果会好一些
不知道有熟悉这方面的朋友么 有什么好的例子与经验?
相关文章:
- ASON国际标准化进展(05-08)
- 使用ADS如何快速进行标准化测量?(05-08)
- 如何用测量线测S参数(05-08)
- 求关于 脉冲功率放大器相位测量方法 的两篇文献(05-08)
- "测试"和"测量"的定义(05-08)
- 圆极化测量(05-08)
射频专业培训教程推荐