2009年最佳测试产品

作者：EDNCHINA 文章来源：EDNCHINA 点击数： 626 更新时间：2009-7-14顶 热 荐 ★★★2009年最佳测试产品奖项，面向电子测试与测量行业的重要的创新性产品和服务。2009年“Best in Test”奖项共设有15个应用及产品类别，该奖项是由Test & Measurement World的读者投票产生，其中，年度测试产品——美国国家仪器的Wi-Fi数据采集设备获得最高读者投票数。
　　年度测试产品
　　Wi-Fi 数据采集设备
　　National Instruments www.ni.com
　　NI无线数据采集(Wi-Fi DAQ)设备具有内置的信号调理功能和商用安全性最高的网络，能够实时进行数据采集，完成性能卓越且简便易用的远程无线传感器测量。NI无线数据采集(DAQ)设备通过结合IEEE 802.11无线或以太网通信、直接的传感器连接以及灵活的NI LabVIEW软件，实现着对电气、物理、机械和声音信号的远程监控。

　　NI无线数据采集(DAQ)设备每通道的数据读写速率超过50 kS/s，并具有高达24位的分辨率。此外，经NIST核准的内置式128位AES加密和高级网络认证方法，确保着最高的商用网络安全性。
　　借助灵活的NI LabVIEW图形化编程和普遍使用的802.11网络设施，无线数据采集(Wi-Fi DAQ)可轻松地将无线连接，纳入基于PC的新型测控系统或现有测控系统。工程师可以利用无线数据采集C系列测量模块，交替使用在数个平台（包括：NI CompactDAQ和CompactRIO、NI单模块USB外盒）上，实现各种测量和控制应用。
　　NI无线数据采集(DAQ)设备包括五款无线设备模块以及众多附件，价格为699美元起。
　　最佳测试时间奖
　　ATPG软件
　　Mentor Graphics www.mentor.com

　　TestKompress ATPG（自动测试格式生成）软件包括嵌入式测试压缩，以提供高质量低成本扫描测试。随着测试需求的增长，在高产量环境下保持高质量IC测试需要进行压缩。很显然，在针对更高阶IC技术时，使用测试向量是必要的需求。

　　通过TestKompress，测试接入I/O口可以减少三个管脚，简化了测试，增加了器件的封装选择性，使标准设计更加流畅。嵌入式确定性测试（EDT）技术可适用于从微处理器至汽车电子的广泛设计类型，给出一致的测试结果，不会出现损失基本覆盖率。
　　TestKompress在2001年时被作为额外的格式压缩功能引入FastScan ATPG工具。最初的压缩等级为10倍，目前已发展至超过100倍。另外的功能包括，分布式处理以获得更快的执行能力，无需特殊格式就可指导错误诊断。设计经过多次压缩后，晶圆测试、封装测试和自建内测试的工作可以明显得到优化。非矢量测试中，可以加入逻辑自测试（LBIST）来进行系统测试。
　　音频/视频及多媒体
　　多媒体测试系统
　　VI Technology www.vi-tech.com
　　测试、设计和制造部门可以应用多媒体测试系统（MMTS）来测试多媒体设备的模拟和数字音/视频性能。MMTS系统提供硬件和软件测试所需的所有通用音频、视频信号及数字协议，通过资源共享以及双核处理器的应用可以优化测试时间。

　　电路板及系统测试和配置
　　覆盖扩展（Cover-Extend）技术
　　Agilent Technologies

　　Cover-Extend覆盖扩展技术是专为面对越来越复杂的印制电路板组件（PCBA）的制造商提供的测试覆盖工具，是电子制造行业两种已建立测试方法学：边界扫描和VTEP无矢量测试的混合。与要求在印制电路板组件(PCBA)上通过物理测试点注入测试激励信号的传统VTEP测试不同，Cover-Extend覆盖扩展不需要物理测试点，而是依靠边界扫描单元所提供的激励源。为在线测试(ICT)用户提供了不需要物理测试点的受限接入测试解决方案。

　　边界扫描
　　T 37x7 RMI仪器
　　JTAG Technologies www.jtag.com
　　JT 37x7 RMI (机架安装式) 仪器是完整的边界扫描控制器，采用标准的19英寸x1U外包装，兼容任何机架安装式功能测试系统。RMI支持所有的边界扫描测试应用，包括IEEE 1149.6高级数字网络测试以及闪存和可编辑逻辑器件的在系统编程(ISP)。RMI有4个完全兼容的边界扫描测试接入端口(TAP)，可以向目标设备提供优秀的信号完整性能。另外，RMI还提供256个可编程I/O，进一步增强了测试覆盖率。

　　EDA/DFx/测试数据分析软件
　　Global Test Operations 解决方案
　　OptimalTest www.optimaltest.com
Global Test Operations 解决方案是专为fabless公司和IDM公司提供的测试管理软件，提供了一个全球测试运行和过程集成视图。为半导体测试提供了企业级、统一的IT支持。允许使用者模拟、控制和管理从晶圆到最终测试的越来越多的分布式制造功能。

　　通用仪器（非示波器）
　　Fluke 287 真有效值电子记录多用表
　　Fluke www.fluke.com
　　具有趋势捕获功能的 Fluke 287 真有效值电子记录多用表能够快速记录设计性能，并以图形方式显示发生的情况。 凭借其独特的记录和图形功能，用户不必再将记录的读数下载至 PC 来分析趋势。 Fluke 287 为手持式多用表融入了前所未有的精度和易用性，大大提升了用户解决问题的能力。 它是要求高精度的苛刻应用领域的终极手持式测量工具。

　　机器视觉与检测
　　OptiCon TurboLine AOI系统
　　GOEPEL electronic www.goepel.com
　　用于大批量印制电路板生产高端检测的自动光学检测系统——OptiCon TurboLine，通过多个摄像装置以及Goepel的扩展色技术（Extended Colour）取得高故障检测。所有的组件和功能可以自定义配置来迎合特殊的检测需求，并具有可升级能力。

　　网络物理层测试
　　C-OTDR (MW90010A) 光时域反射仪
　　Anritsu Company www.us.anritsu.com
　　MW90010A是目前全世界唯一的可以用来测试海底光缆的相干光时域反射仪，其可以测试超长距离的海底光缆，测试距离可以达到12,000Km，是理想的海底光缆测试与维护工具。MW90010A采用相干检测技术，利用光纤下行链路作为测试接口，测试背向反射光，可以穿透所有的光中继器，显示事件的损耗、距离等。

　　示波器
　　WavePro 7 Zi Series
　　LeCroy Corporation www.lecroy.com
　　WavePro 7 Zi系列把杰出的信号保真度与从每个性能方面都使速度达到最大的架构结合在一起，从1.5 GHz直到6 GHz带宽，提供了全新的示波器体验。每条通道提供50Ω和1MΩ输入及高速前端放大器和模数

转换器的四个输入。全新的X-Stream II结构提供了长存储器性能。再加上力科灵活深入的分析工具箱，WavePro 7 Zi系列为电子信号设计、调试、验证、分析和一致性测试提供了极佳的体验。

　　协议分析仪
　　TestCenter 3000 模块组
　　Spirent Communications www.spirentcom.com
　　今天多功能、高密度企业级路由器和开关，带有先进的安全特性及业务识别等功能。测试数据、视频和语音的上层协议变得越来越重要，以提高产品的质量。TestCenter 3000系列模块通过1G端口提供了Layer 2-7测试。提供了1G端口的最高端口密度和性能，确保真实网络中的真实竞争与验证。

　　RF/微波设备：应用及标准
　　DigRF V4 Exerciser/Analyzer
　　Agilent Technologies www.agilent.com
　　WiMAX 和 LTE 技术设备中，集成GHz级串行互联的RFIC为LTE接口的无线物理层测试增大了数字和协议的测试挑战。Agilent的RDX（无线电数字交叉域）平台首次提供了端到端的数字射频（DigRF）V4 测试解决方案。它为射频集成电路（RFIC）和基带 IC（BB-IC）的设计人员以及无线手机集成商提供全面的激励和分析能力。

　　RF/微波通用测试设备
　　6.6 GHz PXIe RF 模块化仪器
　　National Instruments www.ni.com
　　配有高瞬时带宽的NI PXIe-5663 6.6 GHz RF模块化仪器，专为自动化测试而优化。结合高性能PXI控制器和高速PCI Express数据总线，该矢量信号发生器最高测试速度可达传统仪器的10倍。PXIe-5663与PXIe-5673 6.6 GHz RF 矢量信号发生器均为软件定义的模块化仪器，可兼容PXIe-1075 的18 槽高频宽机箱。

　　半导体测试
　　EDGE闪烁噪声测量系统
　　Cascade Microtech www.cascademicrotech.com
　　随着各新型半导体制程节点开发成本的急剧上升以及产品上市时间压力的增加，今天的测量关键参数诸如闪烁噪声，已不再允许错误产生，制造商应体认到这些市场现实情况及其对于半导体制造的影响。EDGE闪烁噪声测量系统，提供撷取闪烁噪声数据的简便方法；最宽带率范围高达30MHz，最低的背景噪声一般低于1.2nV/rtHz在100KHz和以上。如此宽的频率范围和低背景噪声能使客户能设备性能提升、得到较高的利润并缩短产品上市的时间。

测试附件及连接设备

　　W2630A 系列DDR2 DDR3 BGA 探针
　　Agilent Technologies www.agilent.com
　　Agilent公司其W2630A系列DDR2、DDR3 BGA探针是业内首款BGA（ball-grid array）探针，能够直接侦测DRAM的锡球。搭配示波器和逻辑分析仪使用，可进行物理层和功能测试，DDR BGA探针可以进行完整的兼容性与通讯协议验证测试。

　　测试扩展及测试管理软件
　　VEE Pro 9.0
　　Agilent Technologies www.agilent.com
　　Agilent VEE Pro 9.0 是一套使用简易的互动式图形化测试及测量软件，为量测与分析提供了一条快速而简易的途径。此软件可建立灵活的直方图，让您的仪器得到更好的控制，以缩短测试开发的时间，并提升工程设计及生产制造效率。VEE 9.0可视化、数据流编程软件允许用户选择使用多线程的解决方案。与直观的图形拖放编程相配合，多线程更易于使用并更节省时间。

好设备，顶一个！