R&S展示全系列射頻和微波測試解決方案

羅德史瓦茲(Rohde & Schwarz；R&S)公司將在ISAP 2008國際天線與電波傳播研討會暨展示會上展示其全系列射頻和微波測試解決方案，包括EMI測試接收機ESCI與ESU、訊號產生器SMF100A、向量訊號產生器SMU200A，以及ZVA/B系列向量網路分析儀等。 R&S認證型EMI測試接收機R&S ESCI、ESU具有接收機和頻譜儀的功能，完全符合標準CISPR16-1-1；搭配不同的附件，即可完成積體電路電磁發射測試。R&S ESU並擁有合成測試功能以及一整套各種型式的檢波器，包括CISPR-RMS檢波器，射頻掃描型、中頻分析與彈性化測試報告格式，最高頻率範圍分別可從20Hz到8GHz，26.5GHz與40GHz。 在通用量測方面，R&S提供完整的訊號產生器及頻譜分析儀，SMF100A是一部以極高的功率輸出和-115dBc良好單邊帶相位雜訊的微波訊號產生器，適用於多種長途通訊與雷達方面的測試。在位準與頻率設定時間分別僅需4毫秒和3毫秒，毋需外加放大器，便可提供+26dBm的輸出功率，輸出頻率範圍可達22GHz。 向量訊號產生器R&S SMU200A可支援現代通訊系統在研究、開發和生產的所有要求，除了整合兩個獨立的訊號產生器到一台設備中，還擁有強大的衰落模擬功能，可模擬單通道40徑或者雙通道20徑的衰落環境，每個路徑均可進行相應參數的設置，如損耗、延遲、移動速度、多普勒頻移等。頻譜分析儀FSU67擁有從20Hz到67GHz的連續頻率範圍，可一次完成諧波測量而無需更改設置，有利於微波元件的研發和生產應用，例如振盪器、52GHz或58GHz頻率範圍的短程微波連接元件、60GHz波段的本地無線傳輸系統，以及航太國防領域。 針對晶片的S參數測試，R&S ZVA/B系列向量網路分析儀具備雙源四埠結構，可實現多埠測試、平衡測試、混合參數測試以及獨特的真差分測試；多種校準技術(TOSM、TRL/LRL、TOM、TRM、TNA、UOSM)大幅提高了測試的靈活性；放大器與晶圓電路測試也需要用到脈衝訊號以避免過熱的情況發生。 藉由使用R&S ZVA-K7軟體選項，R&S已將脈衝量測整合進高階網路分析儀R&S ZVA當中，提供一套緊密且划算的測試方案。12.5奈秒(ns)的時域解析度可即時地獲得絕對位準、S參數與其他相關量測數據。

自己顶一下啊！