泰克为DDR3存储器提供完整的测试解决方案
泰克DPO/DSA70000B系列和DPO7000系列示波器的DDR 分析软件 (DDRA选件)增加了业内同类测试解决方案上没有的关键规范验证测量功能。JEDEC DDR2和DDR3规范(JESD79-3C, JESD79-2E)规定,测量的通过/失败极限,如建立时间和保持时间应根据相关信号测得的转换速率来作降低。现在, DDRA选件不仅提供了所需的转换速率测量功能,还能够计算额定值减少量,自动调节通过/失败极限。DDRA及多种完善的探测解决方案相结合,包括日前推出的Nexus Technology公司的BGA内插器,为从物理层角度验证和调试DDR设计提供了最完整的解决方案。
用于示波器和逻辑分析仪的最新BGA元件内插器采用创新的插座式设计,可以简便安装在客户电路板上,并能够轻松改变存储器元件,进行检定/余量测试,而不需要把电路板送到返修室,从而避免了中断时间,有效缩短开发周期。内插器的设计通过在距BGA球非常近的每条信号线上均采用嵌入式100欧姆电阻器,可提供无可比拟的信号保真度。在与泰克P7500系列 Tri-Mode探头及Nexus产品或TLA7000系列逻辑分析仪专用的新型焊接探头前端一起使用时,内插器便成为探测系统的一部分,可以以高达1600MT/s及更高的数据速率准确地采集信号。
“随着DDR3存储器设计的尺寸不断缩小、数据速率不断提高,信号接入和探测已经成为每个存储器设计人员的一项关键任务。” Nexus Technology公司总裁Robert Shelsky说,“最新推出的存储器元件内插器在安装和使用的简便性方面为设计工程师提供了最佳的整体体验。新内插器有助于加快DDR3存储器元件的模拟检定、数字调试和协议检验速度,帮助工程师更快地将自己的设计推向市场。”
存储器系统性能的提升,导致了设计复杂程度的不断提高,因而需要使用杰出的验证和测试工具。泰克由示波器、逻辑分析仪、探头和配套软件组成的业内领先的DDR测试套件,为工程师提供了一套全新的产品系列,涵盖了业内最优秀的功能,帮助其开发运用最新DDR技术的下一代产品。
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