自己测试方法

以下是我在测试RF芯片的IP3,IM3的测试流程，写出来大家看看，大家一起讨论下，看有问题没有，谢谢各位！

IP3,IM3测试方法：
1.意义：线性度，单位dbm，测得数值愈大线性度愈好，系统抗干扰能力愈好，但是性能略有下降
2.平台搭建：信号发生器(signal generator)产生两个TONE，通过测试DEMO板产生I/Q，输入频谱仪(spectrum analyzer )
3.具体测试过程
a.在信号发生器中设置两个TONE：
mode~more(1 of 3)~multitone~initialize table~number of tones 8~enter
b.设置两个TONE的间距：
frequency spacing(以1Mhz为例)~done~apply~mode on/off(输出1或者2个峰)
c.设置给DEMO板的输入频率：（以2003.3Mhz为例）
frequency(输入2003.3Mhz)~输入幅度(-26dbm)
d.DEMO板的LO为2000Mhz，混频后产生中频信号
e.注意：输出1个和2个TONE的方法：mode on/off 关闭与打开
设好后通过spec观察是否有2个TONE
f.将GC1连接到电源，用示波器(oscilloscope)观察I/Q输出波形的Vpk-pk，通过调节GC1的电压将其调节到500mV
g.观察spce，设置center frequency(以2003.3Mhz为例)，span和ref level等等，spec屏幕上出现四个峰(两个大峰，两个小峰)分别位于1.8Mhz，2.8Mhz，3.8Mhz，4.8Mhz
h.IM3=大峰功率-小峰功率
j.IP3计算公式：IP3=输入功率+(大峰功率-小峰功率)/2...in-band input IP3
IP3=大峰功率+(大峰功率-小峰功率)/2...out-of-band input IP3

自己沙发自己坐！

下面是我测IM2,IP2时的方法，请大家检查下，谢谢：
IM2,IP2测试方法：
1.平台搭建：信号发生器(signal generator)产生两个TONE，通过测试DEMO板产生I/Q，输入频谱仪(spectrum analyzer )
2.具体测试过程
a.固定AGC,测Pout1：
以IF=4.5Mhz为例，先测2004.5Mhz（即信号发生器输出2004.5Mhz的sin信号，而DEMO板的LO为2000Mhz）时的功率Pout1；此时调节AGC1电压，使得I/Q输出Vpk-pk约为500mV。
b.测试2个TONE的Pout2：
2个TONE：
F1=F/2+f
F2=F/2-f(f尽量大点，使得测量IM2更准确一点，以f=50Khz为例)
因此，F1=2004.5/2+0.05=1002.3Mhz
F2=2004.5/2-0.05=1002.2Mhz
此时spec上的4.5Mhz处功率为Pout2
c.IM2=Pout1-Pout2
IP2=Pout1+IM2

先学习一下！

哪位帅哥能不能来指点下阿?
例如呆呆老大呢?

写得比较细，也显得比较复杂，你测这个为什么要输入I/Q信号呢?

我是把Demo板产生的I/Q信号输入到SPEC上，来看中频信号的功率，再来计算大小峰的功率。