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8960 手机射频测试使用操作培训—— CDMA 篇

内容简介


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        8960 是美国安捷伦(Agilent)公司生产的手机综测仪,可以用于 GSM、CDMA2000 、WCDMA 等各种制式的射频性能测试。Agilent 8960 和罗德-施瓦茨 CMU200 是手机研发设计和生产过程中最常用的两款综测仪,对于手机射频工程师和测试工程师,掌握8960的使用操作是必不可少的工作技能要求。
        现在,本站推出Agilent 8960 使用操作培训教程套装,可以帮助有志于成为手机射频工程师和测试工程师快速学习掌握 8960 的使用。套装中CDMA手机测试篇包含以下教程:

        01. 8960 CDMA RF 指标测试指导
        02. 8960 CDMA2000 射频性能测试
        03. 8960 1xEV-DO Moblie Test Manual Operation Guide


01.  8960 CDMA RF 指标测试指导

        国内某知名手机设计公司编写的使用Agilent 8960 测试CMDA RF指标操作手册,详细讲解CDMA手机射频项的仪器设置和具体测试操作步骤步骤,其具体内容如下:
        开环输出功率范围测试步骤
        接入探测输出功率测试步骤
        最小受控输出功率测试步骤
        码域功率和相位误差测试步骤
        RF最大输出功率测试步骤
        在加性高斯白噪声条件下前向业务信道的解调测试步骤
        接受灵敏度和动态范围测试步骤
        门控输出功率测试步骤
        最大/最小功率测试步骤
        开环功率控制的时间响应测试步骤
        传导性杂散发射测试步骤
        波形质量/码域功率测试步骤


02.  8960 CDMA2000 射频性能测试

        CDMA2000 基础介绍和8960测试操作培训讲义,内容有:
        CDMA2000基础简单介绍
        8960 仪器介绍
        CDMA2000 测试项介绍


03. 8960 1xEV-DO Moblie Test Manual Operation Guide

        使用Agilent 8960 手动测试EVDO 射频指标的英文原版操作手册,由安捷伦科技依据3GPP2 C.S0033规范编写。内容如下:
        Introduction
        Performing Individual Measurements
        Measuring Access Probe Power 
                General Procedure 
                Testing 3.1.2.3.1 Range of Open Loop Output Power
        Measuring Channel Power 
                General Procedure
                Testing 3.1.2.3.5 Minimum Controlled Output Power 
        Measuring Digital Average Power
                General Procedure 
                Testing 3.1.2.3.4 Maximum RF Output Power
        Measuring Packet Error Rate (PER)
                General Procedure 
        Testing 3.1.1.2.1 Demodulation of Forward Traffic Channel in AWGN
        Testing 3.1.1.3.1 Receiver Sensitivity and Dynamic Range
        Measuring Time Response of Open Loop Power Control (TROLPC) 
                General Procedure 
                Testing 3.1.2.3.2 Time Response of Open Loop Power Control
        Measuring TX Spurious Emissions
                General Procedure 
                Testing 3.1.2.4.1 Conducted Spurious Emissions 
        Measuring Waveform Quality + Code Domain Power
                General Procedure 
                Testing 3.1.2.2.2 Waveform Quality and Frequency Accuracy
                Testing 3.1.2.3.7 RRI Channel Output Power 
                Testing 3.1.2.3.8 Code Domain Power


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