使用Agilent矢量网络分析仪解决射频和微波测量领域的难题

图3显示了在VNA上进行的IMD测量。上图显示了使用频谱分析仪进行的扫描操作。该方法直观、易懂，但会使用不必要的数据，从而耗费更多的测试时间。下图显示的方法更佳，其中的数据主要来自IMD和两个测试信号。

使用VNA进行的测量相对于其它方法具有两个突出优点。第一，用户使用一台测试仪器和一套连接组件即可获得全部测量数据：例如S参数、增益压缩、输出谐波和IMD。第二，通过VNA基于功率计的校准，可获得比使用频谱分析仪更高的测量精度。

由于频率转换设备，例如混频器或转换器，需要额外的本地振荡器（LO）信号，故VNA的备用内部源非常适合测试这类设备，。进行扫描LO测试时更是如此，因为可以对拥有固定偏移值的LO信号和射频输入信号进行同步扫描。这是测量宽带频率转换器前端元器件频率响应的常见测试方法。使用VNA的内部信号发生器发出的LO信号可以显著提高测量速度。例如，相对于使用外部Agilent PSG信号发生器，带有选件246的N5230A能够将扫描LO测量的扫描速度提高35倍。图4显示了对单阶频率转换器的测量。上图显示了对转换器IF过滤器的频率响应进行的固定LO测量。下图的扫描LO测量显示了转换器的前端平坦度。

安捷伦还提供专为混频器和转换器测量设计的先进的误差校正程序。这些程序通过校正测试系统中被测件的输入匹配和源匹配之间的失配，将转换损耗或转换增益测量的失配波动降至最低。目前已经开发了一项类似的技术对混频器和转换器群延迟进行低波动绝对测量。

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